[实用新型]一种适用于环境敏感材料的密封样品架

说明书

本实用新型提供的密封样品架包括长方体本体和、凹槽、两半圆盘及透明胶带密封薄膜，长方体本体长54mm，宽35mm，厚2mm，在距密封样品架顶部13mm的位置开设一个长20mm，宽20mm，左右对称，深度为1.5mm的凹槽。凹槽用于装填环境敏感样品，长方体顶部和凹槽底部设置两个半圆盘，半圆盘上无褶皱粘贴透明胶带密封薄膜，用于密封凹槽中敏感样品。实际应用分析时，在手套箱中氮气保护下，于密封样品架凹槽中均匀填平环境敏感样品，用透明胶带密封薄膜无褶皱粘贴在半圆环之上形成密封透明薄膜，然后进行X射线衍射分析，因所有的入射X射线和反射X射线均垂直于透明胶带表面，故背底信号较弱，可以获得令人满意的环境敏感样品的X射线衍射分析结果。

技术领域

本实用新型设计、制作一种新型密封样品架，特别设计、制作一种适用于环境敏感材料X射线衍射分析的密封样品架。

背景技术

目前，已有适用于日本Rigaku公司、荷兰Panalytical公司X射线衍射仪消除或部分消除背底信号干扰的商品化密封样品架。但上述密封样品架日本Rigaku公司和荷兰Panalytical公司采用的密封样品架结构复杂，价格较贵。

通常，在粉末试样的X射线衍射测定过程中，使用一种常规的玻璃或铝质样品架，首先需要在氮气保护下，将环境敏感样品添加到样品架凹槽中，在经刮片压平后装入可以密封的塑料袋(张婉静.固体催化剂的研究方法[J].石油化工,2001,30(7):576.)或透明胶带密封的改进型样品架(李瑞峰,王秀绘.一种用于X射线衍射测定的密封样品架[P].中国专利:204255712U,2015-04-08.)中，在X射线衍射仪的样品台上，装调样品架进行测定。上述测定过程主要存在以下缺点：①样品袋与样品间易发生静电作用，样品易洒落；②分析谱图中含有较强的背底信号干扰，即使采用化学计量学分峰程序处理密封塑料袋或透明胶带背底信号也比较困难，致使其应用范围相对受限，上述专利报道其设计、制作的密封样品架适用于中、高角度的聚烯烃催化剂，低角度样品分析未提供实例。

为了解决现有技术中存在的缺陷，本实用新型提供一种适用于所有环境敏感材料X射线衍射分析的密封样品架。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种适用于环境敏感材料的密封样品架，以期达到制样简便、省时、省力，提高分析效率，并能充分满足X射线衍射对环境敏感样品分析技术的要求。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种适用于环境敏感材料的密封样品架。

于一实施例中，所述密封样品架包括：

一长方体本体，长度54mm，宽度35mm，厚2mm；

一用于均匀填平环境敏感样品的凹槽，开设在所述长方体本体上，且所述凹槽的长度20mm、宽度20mm、深度为1.5mm，所述凹槽的长度方向与所述长方体本体的长度方向同向，所述凹槽的宽度方向与所述长方体本体的宽度方向同向；所述凹槽宽度所在的边距离所述长方体的两短边的距离分别为13cm、11cm，所述凹槽的长度所在的边距离所述长方体的两长边的距离均为7.5cm；

两半圆盘，包括第一半圆盘和第二半圆盘，所述第一半圆盘和所述第二半圆盘均竖直安装在所述长方体本体上且彼此间隔平行设置，所述第一半圆盘和所述第二半圆盘均设置在所述凹槽的一面，其中所述第一半圆盘沿着所述长方体本体的宽度方向竖直设置且位于所述长方体本体的顶端处，所述第二半圆盘竖直设置在远离所述第一半圆盘的凹槽边沿上，所述第一半圆盘和所述第二半圆盘的直径均等于所述长方体本体的宽度；

透明胶带密封薄膜，当所述环境敏感样品自然填满凹槽后，刮抹平整所述环境敏感样品表面，将所述透明胶带密封薄膜无褶皱粘贴在两个所述半圆片上以封闭所述环境敏感样品。

于一实施例中，所述两半圆盘的厚度均为3mm。

于一实施例中，所述密封样品架为金属或塑料材质。