[实用新型]一种小型透过率测量系统

说明书

本实用新型公开了一种小型透过率测量系统，该小型透过率测量系统包括光源、第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜、第二半透过半反射镜、第二椭球反光镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经所述第一半透过半反射镜和第一椭球反光镜反射准直平行光，该准直平行光经透射式样品透射后经所述第二椭球反光镜和第二半透过半反射镜会聚导入所述光谱仪进行分析。本实用新型将具有一定厚度的透明材料放置于第一半透过半反射镜和第二半透过半反射镜之间形成的准直平行光中测量其透过率时，能够避免了由于色差问题所带来透过率或吸收率的测量误差问题，提高了透明材料透过率测量的精确度。

技术领域

本实用新型涉及一种用于分析材料透过率的测量系统，具体涉及一种能够消除色差、便于操作的小型透过率测量系统，该系统可以广泛用于具有一定厚度的透明材料的透过率的测量分析之用。

背景技术

目前，市场上测量带有一定厚度样品的透过率多采用如图1所示的测量支架，其中101是透射式样品，102是测试光的光纤准直器，103是传导测试光的光纤，104是透过光的光纤准直器，105是透过光的光纤，106是固定底座，107是光源，108是小型光纤光谱仪。光源107发出的测试光通过传导测试光的光纤103将测试光导入测试光的光纤准直器102，以准直平行光的形式射入透射式样品101，被透射式样品101吸收后成为透射光，该透射光经透过光的光纤准直器104耦合进入透过光的光纤105，透过光的光纤105将该透射光导入光纤光谱仪108便可以利用下列公式计算出样品101的透过率，

T＝I2/I1

其中I1是未放置透射式样品101时透过光的光纤105接收的光谱，I2是放置透射式样品101时透过光的光纤105接收的光谱。当具有一定厚度的透明材料放于该准直平行光中，测量其透过率时，因为常规透镜耦合所固有的色差问题而出现了色差所引起透过率的测量误差问题，这种误差随着透明材料的厚度增加而增加。这对于需要精确测量样品透过率的应用场景是不能使用的。

实用新型内容

为了克服上述现有技术存在的问题，本实用新型的主要目的在于提供一种能够消除色差、便于操作的小型透过率测量系统，该系统解决了常规透镜耦合所固有的色差问题，避免了因色差所引起的透过率的测量误差问题。

为了实现上述目的，本实用新型具体采用以下技术方案：

本实用新型提供了一种小型透过率测量系统，该小型透过率测量系统包括光源、第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜、第二半透过半反射镜、第二椭球反光镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经所述第一半透过半反射镜和第一椭球反光镜反射准直平行光，该准直平行光经透射式样品透射后经所述第二椭球反光镜和第二半透过半反射镜会聚导入所述光谱仪进行分析。

优选地，还包括第一光纤，所述第一光纤设置于所述光源和第一半透过半反射镜之间的光路上，所述光源发出的光线通过所述第一光纤发射至所述第一半透过半反射镜。

优选地，还包括第二光纤，所述第二光纤设置于所述第二半透过半反射镜和光谱仪之间的光路上，所述准直平行光经所述第二椭球反光镜聚焦后再经所述第二半透过半反射镜、第二光纤导入所述光谱仪。

优选地，还包括第一CCD和第一CCD镜头，所述准直平行光依次经所述第二半透过半反射镜、第一CCD镜头成像于所述第一CCD。

优选地，还包括第二CCD和第二CCD镜头，当将所述光源与所述第二光纤连接时，所述光源发出的光线依次经所述第二半透过半反射镜和第二椭球反光镜反射平行光，该平行光依次经所述第一半透过半反射镜、第二CCD 镜头成像于所述第二CCD。

优选地，还包括第三光纤，所述第三光纤的一端用于与光谱仪连接，所述准直平行光经反射式样品反射后经所述第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜及第三光纤导入所述光谱仪进行分析。

优选地，所述反射式样品倾斜设置于所述准直平行光中。