[实用新型]一种用于测试设备的宽范围高精度电流测量装置有效
申请号: | 201821220162.6 | 申请日: | 2018-07-31 |
公开(公告)号: | CN208537622U | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 汪金达 | 申请(专利权)人: | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
代理公司: | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人: | 王贤义 |
地址: | 519180 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 逻辑控制单元 电流采样单元 本实用新型 高精度电流 存储 采样电阻 测量装置 测试设备 校准参数 程控运算放大器 逻辑控制功能 标准仪器 测量设备 档位选择 电流测量 电子测试 实际需求 外围电路 数据处理 单片机 可程控 体积小 调用 采集 输出 替代 应用 | ||
1.一种用于测试设备的宽范围高精度电流测量装置,其特征在于:它包括MCU逻辑控制单元、电流采样单元、EEPROM存储,所述MCU逻辑控制单元由单片机及其外围电路构成,完成数据处理及逻辑控制功能,所述电流采样单元包括两个高精度采样电阻、GPIO控制的MOS管档位选择、程控运算放大器、24bit ADC,采样电阻的大小及ADC的精度根据实际需求选择,所述EEPROM存储用于存储校准参数,所述MCU逻辑控制单元采集的电流经过调用校准参数计算,输出最终测量结果,所述高精度采样电阻串联在电源输入与电源输出之间,所述高精度采样电阻还通过所述档位选择连接所述MCU逻辑控制单元,所述高精度采样电阻还连接所述程控运算放大器,所述程控运算放大器串联所述ADC连接所述MCU逻辑控制单元,所述MCU逻辑控制单元连接所述EEPROM存储。
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