[实用新型]一种检偏器

说明书

本实用新型属于光学仪器技术领域，涉及一种检偏器，包括架体，所述架体上设置有第一放置台,所述第一放置台的正下方设置有第二放置台，所述第二放置台上设置有灯泡，所述第一放置台的正上方设置有第三放置台，所述第一放置台与第三放置台上均开设有供光线穿过的呈圆形的通孔，所述第一放置台上于所述通孔上盖设有偏振片，所述第三放置台上于所述通孔上盖设有检振片，所述第三放置台上设置有用于转动所述检振片的转动组件。检验晶体时，将晶体放置在偏振片上，然后灯泡照射晶体，并照射至盖设在位于第三放置台上的检振片上，然后工作人员通过转动组件转动检振片，判断该晶体是否符合生产要求，更加方便且节约人力。

技术领域

本实用新型涉及光学仪器技术领域，尤其涉及一种检偏器。

背景技术

当材料在外力作用下不能产生位移时，它的几何形状和尺寸将会发生变化，这种形变称为应变。材料发生形变时内部产生了大小相等但方向相反的反作用力来抵抗外力，定义单位面积上这种反作用力叫做应力。

晶体在长晶过程中不可避免的会出现应力，应力的存在会影响到后续的垒晶层，在生产晶体的时候，为了检测生产出的晶体是否存在应力或晶体内的应力分布，通常需要在晶体的前方放置一块检振片，然后人工手持手电筒对晶体进行照射，使得灯光透过晶体照射至检振片上，然后保持手电筒位置固定，转动位于晶体前方的检振片，观察透过晶体照射至检振片上的光束，若光束明亮，则没有应力，若光束较暗，则含有应力。

但是在上述的检测过程中，需要人工手持手电筒并保持不动，较为麻烦，且浪费人力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种检偏器，具有节约人力的优点。

本实用新型的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种检偏器，包括架体，所述架体上设置有第一放置台,所述第一放置台的正下方设置有第二放置台，所述第二放置台上设置有灯泡，所述第一放置台的正上方设置有第三放置台，所述第一放置台与第三放置台上均开设有供光线穿过的呈圆形的通孔，两个所述通孔同心设置，所述第一放置台上于所述通孔上盖设有偏振片，所述第三放置台上于所述通孔上盖设有检振片，所述第三放置台上设置有用于转动所述检振片的转动组件。

实施上述技术方案，检验晶体时，将晶体放置在位于第一放置台上的通孔处的偏振片上，然后使得灯泡照射晶体，此时由灯泡发出的光线将会通过第一放置台上的晶体，照射至盖设在位于第三放置台上的检振片上，然后工作人员通过转动组件转动检振片，以观察透过晶体照射至检振片上的光束是否为明暗相间的同心圆，从而判断该晶体内是否存在应力，若观察到的同心圆内有缺失，即明暗不是相间排布的同心圆，则该晶体不合格，反之则合格；该检偏器使得在检验的过程中，仅需要工作人员通过转动组件转动检振片即可，不需要人工手持手电筒并保持不动，不仅更加方便且节约人力。

进一步，所述转动组件包括开设在第三放置台远离第一放置台侧的滑槽和滑移连接在所述滑槽内的滑块，所述滑槽和所述滑块均呈环形，所述检振片可拆卸连接在所述滑块上。

实施上述技术方案，转动滑块，使得滑块在滑槽内转动，以带动检振片转动，然后观察透过晶体照射至检振片上的光束，判断该晶体是否符合生产要求，这样在检验的过程中，工作人员转动滑块即可使得检振片转动，更加方便且节约人力。

进一步，所述滑块上设置有用于供手持握住以转动滑块的凸起。

实施上述技术方案，在旋转滑块时，用手捏住凸起进行旋转，以便于旋转滑块。

进一步，所述凸起设置有4个，4个所述凸起均匀设置在所述滑块上。

实施上述技术方案，4个凸起均匀分布在滑块上，不仅更便于旋转滑块，且在转动滑块的时候，手不会对检振片造成遮挡，这样更方便工作人员通过检振片观察光束的明暗变化。