[实用新型]一种中子探测器实验环境的电源系统有效
申请号: | 201821188373.6 | 申请日: | 2018-07-16 |
公开(公告)号: | CN208874349U | 公开(公告)日: | 2019-05-17 |
发明(设计)人: | 陈宝康 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | H02J9/06 | 分类号: | H02J9/06;H02M1/44;H02M7/04;H02M3/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 实验环境 中子探测器 电源系统 电源输出接口 本实用新型 热备份切换 监测采集装置 电磁干扰 电源输出 受扰设备 外部供电 稳定输出 干扰源 电源 | ||
本实用新型公开了一种中子探测器实验环境的电源系统,包括ENMOD模块、ACDC模块、DCDC模块、热备份切换模块、LDO模块及电源输出接口,所述ENMOD模块、ACDC模块、DCDC模块、热备份切换模块、LDO模块及电源输出接口依序串联连接。本实用新型的电源系统有效消除了外部供电干扰源与受扰设备之间的电磁干扰,实现了实验环境电源不间断、稳定输出,为高精度的中子探测器实验环境中各监测采集装置提供了稳定性好、可靠性高的电源输出。
技术领域
本实用新型涉及中子探测器实验环境技术领域,特别涉及一种中子探测器实验环境的电源系统。
背景技术
中子探测器是测量中微子的探测器,其用于探测的靶物质为液体闪烁体,靶物质的质量大小决定探测效率和事例数,是影响实验精度的最重要的因素之一,实验要求由于靶物质的质量变化带来的误差必须控制在小于0.2%的水平,最好能达到0.1%以下。计算表明,温度每变化1度,由于液体的热胀冷缩,探测器内的液体闪烁体将流到溢流罐中,造成有效的靶质量将变化0.1%。因此,要对靶物质的质量变化进行长期监测,需要对中子探测器内各项参数的微小变化进行监控,由于中子探测器参数采集装置要求精度高、稳定性好、可靠性强,为满足中子探测器参数采集装置要求,现需要开发了一种中子探测器实验环境的电源系统,要求能实现交流电转换成直流电、能消除干扰源与受扰设备之间的电磁干扰,且能实现热备份切换,保证电源不间断、稳定输出。
实用新型内容
本实用新型的目的是公开一种中子探测器实验环境的电源系统,在克服现有技术的不足的基础上,提供一种中子探测器实验环境的电源系统,通过采用ENMOD模块,消除了干扰源与受扰设备之间的电磁干扰,采用热备份切换模块,实现了保证电源不间断、稳定输出,为精度高的中子探测器参数采集装置提供了稳定性好、可靠性强的电压输出。
为了达到上述目的,本实用新型技术方案如下,一种中子探测器实验环境的电源系统,一种中子探测器实验环境的电源系统,其特征在于:所述电源模块包括ENMOD模块、ACDC模块、DCDC模块、热备份切换模块、LDO模块及电源输出接口;所述ENMOD模块、ACDC模块、 DCDC模块、热备份切换模块、LDO模块及电源输出接口依序串联连接。
所述ENMOD模块由依次连接的交流电输入端、过流保护模块、第一级EMI模块、第二级 EMI模块、第三级EMI模块、第四级EMI模块、过压保护模块组成;所述ENMOD模块包括压敏电阻Z11、保险器F11、电容器C10、C11、C12、C13、C14、C15、C16、电阻器R11、R12、 R13、电感器L10、L11、L12、L13、L14、瞬变电压抑制二极管D11、D12、D13;所述Z11是 MOV压敏电阻、保险器F11是10A保险器、电容器C10、C11的电容值是1.0uF,电容器C12、 C13、C14、C15的电容值是4700pF、电容器C16的电容值是0.22uF、电感器L10是6.9mH差模电感,电感器L11和L14是1.3mH共模电感,电感器L12和L13是27uH,瞬变电压抑制二极管D11、D12型号为1.5KE130CA,瞬变电压抑制二极管D13型号为1.5KE150CA;所述第一级 EMI模块由Z11、C10、R11并联连接组成;所述第二级EMI模块由L10与C11采用∏形连接组成;所述第三级EMI模块的R12和L12并联连接及R13和L13并联连接后左端与L11串联连接,右端与C12、C13连接接地;所述第四级EMI模块的L14与C16采用∏形,C14、C15 与L14右端连接接地;所述过压保护模块的D11、D12、D13串联连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳大学,未经深圳大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821188373.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。