[实用新型]电源测试装置及系统

说明书

本实用新型提供一种电源测试装置及系统，涉及集成电路测试技术领域。该电源测试装置包括控制器、M个数模转换器、N个模数转换器，以及电源转换模块，其中，M、N为大于1的整数。所述控制器与所述M个数模转换器及所述N个模数转换器连接，用于形成多个测试接口；所述电源转换模块与所述控制器连接，用于输出多路电源。本方案通过控制器与M个数模转换器、N个模数转换器相配合，形成多路测试接口，通过电源转换模块输出多路电源，有利于同时对多个芯片进行测试，以提高测试效率。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，具体而言，涉及一种电源测试装置及系统。

背景技术

随着科技智能化的发展，越来越多企业加大了对集成电路芯片的研究力度，使得国内集成电路芯片的供应逐渐摆脱对进口的依赖。例如，当前在很多智能手机上得到大量应用的触摸屏控制芯片便为国内企业完成研发设计的。而在一个芯片由设计到最终成熟产品完成的过程中，为保证芯片的质量和性能，集成电路芯片的研发企业及生产厂家则需要对大量的芯片进行相关测试。

在大多数测试场合中，均由人工进行测试。比如，在芯片的批量生产过程中，由于设备和操作者的各种可能的因素(比如设备器件之间的尺寸差异、性能差异等)，无法保证生产出来的芯片全部都是完好品。也就是在生产的末端需要加入各种的测试设备和测试工具，以保证出厂的所有实装电路板或芯片与设计的各种规格和参数完全一致。一般由于工厂生产量大，而目前国内测试设备测试速率和通道数有限(100MHz/256通道以下),难以实现同时测量多颗高速数字芯片，因此只能降频率小批量测试,使得良率和生产效率都很差，难以做到高效、高覆盖的测试。

实用新型内容

为了克服上述现有技术中的不足，本实用新型提供一种结构简单实用的电源测试装置及系统，以解决上述问题。

为了实现上述目的，本实用新型较佳实施例所提供的技术方案如下所示：

本实用新型较佳实施例提供一种电源测试装置，用于测试待测芯片，包括控制器、M个数模转换器、N个模数转换器，以及电源转换模块，其中，M、N为大于1的整数；

所述控制器与所述M个数模转换器及所述N个模数转换器连接，用于形成多个测试接口；

所述电源转换模块与所述控制器连接，用于输出多路电源。

可选地，上述电源测试装置还包括：

用于固定所述待测芯片的固定部；

与所述固定部传动连接以带动所述固定部运动的第一驱动部，以及

用于与所述待测芯片的引脚和/或接口连接的接口单元，所述接口单元与所述M个数模转换器中的至少部分模数转换器连接。

可选地，上述固定部开设有用于卡持所述待测芯片的卡槽。

可选地，上述卡槽中设置有垫层，所述垫层为由柔性材料形成的与所述卡槽相匹配的结构。

可选地，上述电源测试装置还包括第二驱动部及与所述第二驱动部传动连接的推柱；

其中，所述推柱设置在所述卡槽中，用于在所述第二驱动部的带动下将所述待测芯片从所述卡槽中推出。

可选地，上述电源测试装置还包括与所述第一驱动部和/或第二驱动部连接的控制开关。

可选地，上述第一驱动部为第一气压缸或第一液压缸；所述第二驱动部为第二气压缸或第二液压缸。

可选地，上述电源测试装置还包括总线单元，所述控制器通过所述总线单元与所述M个数模转换器及所述N个模数转换器连接。