[实用新型]一种集成电路测试仪有效
申请号: | 201821081102.0 | 申请日: | 2018-07-09 |
公开(公告)号: | CN208334573U | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 深圳市众合和科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市罗湖*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 矩形槽 插线接口 集成电路测试仪 测试仪本体 滑动装置 转动装置 本实用新型 卡位机构 插线 表面积累 机械设备 转动按钮 保护盒 上表面 滑槽 转轴 对称 积累 | ||
本实用新型涉及机械设备技术领域,尤其为一种集成电路测试仪,包括测试仪本体,所述测试仪本体,所述测试仪本体的上表面设有第一矩形槽,所述第一矩形槽内设有滑动装置,所述滑动装置包括设置在所述第一矩形槽内部的保护盒,所述第二矩形槽与第三矩形槽内设有转动装置,所述转动装置包括设置在所述第二矩形槽内的插线接口和两个相互对称的转轴,所述转动按钮的上方设有卡位机构,本实用新型结构简单,使用方便,通过设置的滑槽以及滑动装置,更加方便插线,解决了一般的插线接口在插线时非常不便的问题;另外通过设置的转动装置和卡位机构,避免插线接口表面积累灰尘,解决了一般的集成电路测试仪上的插线接口容易积累灰尘的问题。
技术领域
本实用新型涉及机械设备技术领域,具体为一种集成电路测试仪。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构,集成电路在被生产制造出来之后首先需要对其进行测试,在测试的时候就需要用到集成电路测试仪,而一般的集成电路测试仪上的插线接口是暴露在外的,其很容易积累灰尘,另外一般的插线接口其是固定在集成电路测试仪上的,在插线的时候非常不便。鉴于此,我们提出一种集成电路测试仪。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试仪,以解决上述背景技术中提出的一般的集成电路测试仪上的插线接口容易积累灰尘以及插线时非常不便问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种集成电路测试仪,包括测试仪本体,所述测试仪本体,所述测试仪本体的上表面设有第一矩形槽,所述第一矩形槽的左右两侧槽壁上对称设置有滑槽,每个所述滑槽的槽口处均固定安装有两个相互对称的限位块;
所述第一矩形槽内设有滑动装置,所述滑动装置包括设置在所述第一矩形槽内部的保护盒,所述保护盒的前侧面上开设有第二矩形槽以及第三矩形槽,所述保护盒的左右两侧面上固定安装有滑块,所述滑块与所述滑槽之间滑动连接,所述第二矩形槽与第三矩形槽内设有转动装置;
所述转动装置包括设置在所述第二矩形槽内的插线接口和两个相互对称的转轴,且所述插线接口和所述第二矩形槽槽壁之间通过转轴转动连接,其中一个所述转轴活动贯穿所述第二矩形槽的槽壁并伸至所述第三矩形槽内,位于所述第三矩形槽内的所述转轴的轴体上固定安装有转动按钮。
优选的,每个所述滑块的末端均固定安装有两个相互对称的防脱块,且两个所述防脱块之间的距离大于两个所述限位块之间的距离。
优选的,所述转动按钮的上方设有卡位机构。
优选的,所述卡位机构包括固定安装在所述第三矩形槽顶壁上的固定块,所述固定块的下方设有卡位块。
优选的,所述卡位块的顶面开设有方形槽,所述方形槽内设有两个相互对称的压簧。
优选的,每个所述压簧的一端均紧密粘接在所述方形槽的槽壁上,另一端均紧密粘接在所述固定块的下表面。
优选的,所述卡位块的底端设有凸块,且所述卡位块底端凸块的截面呈V字形。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型结构简单,使用方便,通过设置的滑槽以及滑动装置,滑槽以及滑块之间滑动连接,实现将安装在保护盒内部的插线接口向外拖动,更加方便插线,解决了一般的插线接口其是固定在集成电路测试仪上的,在插线时非常不便的问题。
2、本实用新型通过设置的转动装置和卡位机构,实现在使用时将插线接口转动到靠近人体面前的方向,在不使用时将其转动到保护盒内部,从而避免其表面积累灰尘,解决了一般的集成电路测试仪上的插线接口是暴露在外的,很容易积累灰尘的问题。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市众合和科技有限公司,未经深圳市众合和科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821081102.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种集成电路动态闩锁效应检测系统
- 下一篇:新型测试冶具