[实用新型]光学测试自锁治具

说明书

本实用新型属于光学测试治具领域，旨在提供一种光学测试自锁治具，其技术方案要点是一种光学测试自锁治具，包括三向滑轨，所述三向滑轨包括X轴滑移轨道、Y轴滑移杆、Z轴滑移杆，所述Z轴滑移杆顶部设有限位板，所述X轴滑移轨道、Y轴滑移杆、Z轴滑移杆中至少有一处设有锁紧结构，所述锁紧结构包括锁紧气缸，或滚互锁钢球。在限位板运动过程中，调节三向滑轨中的至少一个，在达到预期位置后，采用锁紧气缸将Z轴滑移杆的相对位置限定；或采用互锁钢球将X轴滑移轨道、Y轴滑移杆之间的相对位置关系进行限定，以此提高部件之间的相对位置关系的稳定程度，在受到外界冲击时，不易发生部件之间的后退或窜动等情况。

技术领域

本实用新型涉及光学测试治具领域，特别涉及一种光学测试自锁治具。

背景技术

检测光学元件时，通常需要对待检测物品和光源施加限位。对待检测物品和光源所施加的限位结构可以是同一种结构，只需能够将待检测物品或者光源的相对位置进行调节和限定即可。

目前，公开号为CN206488912U的中国专利公开了一种背光源检测装置，它包括背光源放置架、背光源、点灯治具、传动轴、控位旋转圆盘、伸缩传动杆组件、气缸、驱动底板、固定基座、从动伸缩杆、牵引板、检测腔体、亮度检测仪器、亮度采集传输处理器、检测升降支座、升降探测杆、控制电源、亮度检测机构，所述空位旋转圆盘、驱动底板和检测腔体均装设在固定基座上，所述空位旋转圆盘上端设有背光源置放架和点灯治具，所述背光源活动装设在背光源置放支架上，所述背光源通过背光源置放架与点灯治具相连接。

其中，起到调节相对位置的结构部分是伸缩杆传动组件、气缸、驱动底板、固定基座、从动伸缩杆、牵引板，在进行使用时，电源对驱动底板进行控制，伸缩传动杆组件将驱动底板上的检测腔体进行移动，在此过程中，只有推动部件的动力来源，一旦动力来源不稳定时，就容易发生部件之间相对位置关系受到外界冲击等突发因素时、后退或窜动的情况。

实用新型内容

本实用新型是提供一种光学测试自锁治具，能够在部件被推动至预期位置后，降低部件与预期位置之间发生相对位移的可能性。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种光学测试自锁治具，包括三向滑轨，所述三向滑轨包括X轴滑移轨道、Y轴滑移杆、Z轴滑移杆，所述Z轴滑移杆顶部设有用于限位照明灯的限位板，所述X轴滑移轨道、Y轴滑移杆、Z轴滑移杆中至少有一处设有锁紧结构，所述锁紧结构包括位于Z轴滑移杆上的锁紧气缸，或滚动连接于X轴滑移轨道、Y轴滑移杆之间的互锁钢球。

通过采用上述技术方案，在限位板运动过程中，调节三向滑轨中的至少一个，在达到预期位置后，采用锁紧气缸将Z轴滑移杆的相对位置限定；或采用互锁钢球将X轴滑移轨道、Y轴滑移杆之间的相对位置关系进行限定，以此提高部件之间的相对位置关系的稳定程度，在受到外界冲击时，不易发生部件之间的后退或窜动等情况。

进一步设置：所述锁紧气缸套设于Z轴滑移杆上，所述Z轴滑移杆与X轴滑移轨道之间连接有滑移块，所述滑移块在竖直方向上引出有背板，所述Z轴滑移杆贴设于背板上。

通过采用上述技术方案，在滑移块滑动的过程中，Z轴滑移杆与滑移块之间的相对位置关系始终保持不变，使得整体结构更稳定。当Z轴滑移杆在Z轴上伸出长度变长时，达到预期长度就采用锁紧气缸将Z轴滑移杆锁紧，降低Z轴滑移杆由于竖直高度太高而发生弯折的可能性。

进一步设置：所述锁紧气缸的顶部与背板的顶部齐平。

通过采用上述技术方案，当限位板上下移动、直至抵触到背板的底部时，不易因为锁紧气缸的凸出部分抵触而影响限位板移动的行程。锁紧气缸顶部与背板共面设置后，限位板能够抵触的面积更大，稳定程度更高。

进一步设置：所述背板位于滑移块靠近中间位置，所述背板背离锁紧气缸的一侧设有用于提高背板可靠程度的肋板。