[实用新型]半导体基板载具拆解连续式下料机有效
申请号: | 201821078491.1 | 申请日: | 2018-07-09 |
公开(公告)号: | CN208580724U | 公开(公告)日: | 2019-03-05 |
发明(设计)人: | 赵凯;苏浩杰;黄军鹏;邵嘉裕 | 申请(专利权)人: | 上海世禹精密机械有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/67 |
代理公司: | 上海远同律师事务所 31307 | 代理人: | 张坚 |
地址: | 201600 上海市松江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 拆解 一体件 输送带 基板 半导体基板载具 下游生产线 连续式 下料机 下料位 盖板 下料 底板固定机构 底板 本实用新型 不良基板 工艺加工 固定一体 基板水平 取放机构 上料机构 水平调整 剔除机构 检测 连线 | ||
1.一种半导体基板载具拆解连续式下料机,其特征在于,包括:
用于将一体件输送至拆解位的一体件上料机构;
用于在所述拆解位固定一体件的底板的底板固定机构;
用于对所述拆解位上的一体件进行拆解并将拆解下来的基板以及盖板分别下料至基板下料位以及盖板下料位的拆解取放机构,所述拆解取放机构包括可升降且在拆解位、基板下料位和盖板下料位上方水平移动的底座、用于从上方吸住载具盖板的真空吸盘以及左右对称固定于所述底座的下方且可左右相互靠近或者远离的两个抓手,所述真空吸盘位于所述底座的下侧,且与该底座固定,所述抓手上具有用于在左右相互靠近时可从底板侧面的缺口水平伸至基板下方的多个指部,所述多个指部前后间隔依次分布,所述基板下料位位于第二输送带上;
不良基板剔除机构,所述不良基板剔除机构包括不良基板剔除输送带、可调整宽度以使不良基板下落至所述不良基板剔除输送带上的检测输送带以及用于对经过所述检测输送带的基板进行检测的检测器,所述检测输送带位于不良基板剔除输送带的上方,且其后端与所述第二输送带的前端相邻;
可左右水平调整位置依次对接所述检测输送带以及下游生产线以将来自该检测输送带的基板水平输送给所述下游生产线的基板连线输送带,所述基板连线输送带固定于一左右水平调整机构上。
2.根据权利要求1所述的半导体基板载具拆解连续式下料机,其特征在于,所述一体件上料机构包括将料盒中的一体件依次送至第一输送带上的料盒上料装置,所述拆解位位于所述第一输送带上,所述料盒上料装置包括:
用于水平输送载料的料盒的第一送盒带,所述第一送盒带与所述第一输送带呈90度布置,其前端具有弹性止挡部;
用于水平输送空料盒的第一收盒带,所述第一收盒带与第一送盒带上下间隔布置且输送方向相反;
可在第一推料位与所述第一送盒带前端或者第一收盒带后端之间水平移动、可在第一推料位上下移动的第一料盒夹爪,所述第一推料位在后侧与所述第一输送带的后端相邻,且位于第一送盒带前端的前侧;
用于在所述第一料盒夹爪带动料盒向上移动过程中依次将料盒中的一体件水平推至所述第一输送带后端的第一推料杆。
3.根据权利要求2所述的半导体基板载具拆解连续式下料机,其特征在于,所述第一输送带由左右间隔布置于支架上的两条输送皮带构成,所述底板固定机构包括:
用于真空吸住底板的真空台,所述真空台位于两条输送皮带之间;
用于检测一体件是否到位至所述真空台上的第一到位传感器;
用于根据到位传感器的信号升起的被动挡块、用于根据到位传感器的信号升起并向被动挡块水平推动一体件的第一主动整位块,所述被动挡块以及第一主动整位块分别位于所述真空台的前后两侧;
用于根据到位传感器的信号从左右方向向一侧支架水平推动一体件的第二主动整位块;
用于根据到位传感器的信号将所述真空台上升至第一取放高度的第二升降机构,所述第二升降机构与所述真空台连接。
4.根据权利要求3所述的半导体基板载具拆解连续式下料机,其特征在于,所述一体件上料机构还包括可沿所述第一输送带前后移动用于将底板从拆解位回推至料盒内的回推杆。
5.根据权利要求1或4所述的半导体基板载具拆解连续式下料机,其特征在于,还包括设于所述盖板下料位的盖板回收机构,所述盖板回收机构包括:
用于上下层叠放置多个盖板的料仓,所述料仓由竖直且前后左右布置的多个柱体合围构成,左右一侧的多个柱体固定于一支撑板上,左右另一侧的多个柱体左右位置可调地固定于所述支撑板上,前后一侧的多个柱体固定于所述支撑板上,前后另一侧的多个柱体前后位置可调地固定于所述支撑板上,所述料仓设有可升降用于供所述拆解取放机构将盖板下料至第二取放高度的托板;
用于在所述第二取放高度检测盖板的第二到位传感器,所述第二到位传感器的发射端以及接收端分别设于所述第二取放高度的两侧;
用于在第二取放高度分别前后、左右水平推动盖板的第三主动整位块以及第四主动整位块。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造