[实用新型]一种青铜器表面缺陷检测系统有效
申请号: | 201821022499.6 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN208350660U | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
发明(设计)人: | 雷水 | 申请(专利权)人: | 山西大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N29/04;G01B11/00;G01B17/00 |
代理公司: | 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 | 代理人: | 任林芳 |
地址: | 030006 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 青铜器 数据采集装置 数据处理装置 表面缺陷检测系统 本实用新型 产生装置 光路 显示器 电容式位移传感器 高速数据采集卡 非线性调制 光路调节器 激光发生器 可视化显示 前置放大器 数据处理器 表面缺陷 超声频率 尺寸信息 公开系统 空间位置 缺陷位置 扫描检测 图像方式 电位移 扫描点 无损伤 检测 排布 放大 表现 | ||
1.一种青铜器表面缺陷检测系统,其特征在于,包括光路产生装置、数据采集装置以及数据处理装置;
其中,所述光路产生装置包括激光发生器和光路调节器;激光发生器用以激发高能激光脉冲束;光路调节器用以对激光发生器产生的高能激光脉冲束进行对焦、分光,以及控制高能激光脉冲束以预设速率对待检测青铜器表面进行扫描检测;
所述数据采集装置包括电容式位移传感器、前置放大器及高速数据采集卡;电容式位移传感器设置于待检测青铜器表面上方的指定位置,与待检测青铜器表面是非接触关系,以在感应高能激光脉冲束照射到待检测青铜器表面后产生的激光超声波后,产生电位移信号;电容式位移传感器输出端连接前置放大器输入端,前置放大器用以将电容式位移传感器产生的微弱电位移信号进行放大;前置放大器输出端连接高速数据采集卡输入端,用以对放大后电位移信号进行采集;
所述数据处理装置包括数据处理器和显示器,高速数据采集卡的输出端与数据处理器输入端相连接,数据处理器输出端与显示器相连接,数据处理器用以提取放大后的电位移信号,进行处理得到因缺陷非线性调制作用引起的新的超声频率成份的特征值,并将特征值按照扫描点的空间位置进行排布,以将缺陷位置及尺寸以图像方式表现出来,并传输到显示器进行显示。
2.如权利要求1所述一种青铜器表面缺陷检测系统,其特征在于,经聚焦后的高能激光脉冲束的光斑直径为0.3mm。
3.如权利要求1所述一种青铜器表面缺陷检测系统,其特征在于,所述激光发生器产生高能激光脉冲束后,经过一分束器作用分为第一激光束与第二激光束;其中,第一激光束作为触发信号打开高速数据采集卡使能端口,以使高速数据采集卡进入工作状态,第二激光束在光路调节器的控制下照射到待检测青铜器表面,以对待检测青铜器表面缺陷进行二维点阵扫描检测。
4.如权利要求3所述一种青铜器表面缺陷检测系统,其特征在于,所述光路调节器控制第二激光束在待检测青铜器表面检测的扫描路径是周期形方波,相邻两扫描点之间距离为0.1mm。
5.如权利要求1-4之一所述一种青铜器表面缺陷检测系统,其特征在于,所述激光发生器为Nd:YAG激光发生器,所激发脉冲束脉冲宽度为20ns,波长为1064nm,激发频率为20KHz。
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