[实用新型]一种基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置有效
| 申请号： | 201821010007.1 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN208297341U | 公开（公告）日： | 2018-12-28 |
| 发明（设计）人： | 钟舜聪;黄异;范学腾;陈伟强 | 申请（专利权）人： | 福州大学 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 蔡学俊;吴志龙 |
| 地址： | 350108 福建省福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 高阻 衰减全反射 棱镜 样品池框架 检测装置 镂空部 三棱柱形 分辨 物理化学性质 本实用新型 粉末状样品 太赫兹光谱 工程应用 可拆连接 太赫兹波 样品池盖 样品池腔 倒置 潜在的 上表面 倏逝波 底面 含水 调试 检测 应用 分析 | ||
1.一种基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置，其特征在于，包括样品池框架及固定于样品池框架下方的倒置的三棱柱形高阻硅棱镜、所述样品池框架中部具有镂空部，三棱柱形高阻硅棱镜的底面与镂空部形成放置分辨物体的样品池腔室，所述镂空部的上表面可拆连接有样品池盖。
2.根据权利要求1所述的一种基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置，其特征在于，样品池样品池框架下部固定连接有底座，所述底座侧部设置有线性移动平台，所述线性移动平台包括基板，所述基板上设置有纵向导轨，所述纵向导轨上滑动配合有活动板，所述活动板侧部延伸有固定块，所述固定块中部固定有调节螺杆，所述基板侧部延伸有基座，所述调节螺杆的下端与基座螺纹配合，所述底座与活动板固定连接，通过调节螺杆实现活动板的上下移动。
3.根据权利要求2所述的一种基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置，其特征在于，所述样品池盖与三棱柱形高阻硅棱镜底面之间设置有密封圈。
4.根据权利要求1所述的一种基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置，其特征在于，所述样品池框架包括截面为U型的框架本体，所述样品池框架下部固定连接有限位三棱柱形高阻硅棱镜的支撑架，所述支撑架设置有一对且一对支撑架相向面具有与三棱柱形高阻硅棱镜两侧相配合的斜面以限位三棱柱形高阻硅棱镜。
5.根据权利要求1所述的一种基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置，其特征在于，所述样品池盖经贯穿的螺钉固定于样品池框架上，所述螺钉上设置有蝶形螺母。
6.根据权利要求2所述的一种基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置，其特征在于，所述线性移动平台旁侧固定连接有拐状的线性移动平台固定板。
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