[实用新型]材料定位装置及材料电磁反散射系数测量装置有效

专利信息
申请号: 201821007363.8 申请日: 2018-06-28
公开(公告)号: CN208921619U 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 王宇涵;王龙河 申请(专利权)人: 王宇涵
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 116000 辽宁省大连市高新园区*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 聚焦透镜天线 定位装置 夹具 待测材料 反散射 系数测量装置 电动位移台 电动旋转台 距离传感器 竖直轴线 电磁波 矢量网络分析仪 本实用新型 电磁波能量 电动旋转 定向天线 方向垂直 系数测量 转动过程 驱动 发射 转动
【权利要求书】:

1.一种用于材料电磁反散射系数测量的材料定位装置,其特征在于:包括:电动位移台、第一电动旋转台、夹具和距离传感器,所述电动位移台用于驱动所述第一电动旋转台远离或靠近聚焦透镜天线,所述第一电动旋转台上设置有所述夹具并用于驱动所述夹具绕竖直轴线转动,所述夹具用于夹持待测材料,所述距离传感器用于测定聚焦透镜天线与待测材料表面的距离,通过聚焦透镜天线发射电磁波至待测材料的表面并接收待测材料表面反射或散射的电磁波,待测材料绕竖直轴线转动过程中,当聚焦透镜天线接收的电磁波能量最大时,聚焦透镜天线电磁波的发射方向垂直于待测材料表面。

2.根据权利要求1所述的用于材料电磁反散射系数测量的材料定位装置,其特征在于:还包括一发射支架,所述聚焦透镜天线固定设置于所述发射支架上。

3.根据权利要求2所述的用于材料电磁反散射系数测量的材料定位装置,其特征在于:所述距离传感器设置于所述发射支架上。

4.根据权利要求1所述的用于材料电磁反散射系数测量的材料定位装置,其特征在于:所述距离传感器为激光距离传感器。

5.根据权利要求1所述的用于材料电磁反散射系数测量的材料定位装置,其特征在于:所述第一电动旋转台包括第一转台、第一固定部和第一驱动组件,所述第一驱动组件固定设置于所述第一固定部上并用于驱动所述第一转台绕竖直轴线转动;所述第一电动旋转台内还设置有第一限位开关,当所述第一转台与所述第一限位开关接触时,所述第一转台复位至第一机械原点,所述第一转台位于第一机械原点时所述聚焦透镜天线电磁波的发射方向与待测材料表面呈第一固定角度;且所述第一转台外表面周向设置有第一刻度,所述第一固定部上设置有指向所述第一刻度的第一刻度指针。

6.一种材料电磁反散射系数测量装置,其特征在于:包括权利要求1~5中任一项所述的材料定位装置,还包括支撑板、第二电动旋转台、矢量网络分析仪、聚焦透镜天线和定向天线,所述矢量网络分析仪的两个接口分别连接所述聚焦透镜天线和所述定向天线,所述聚焦透镜天线、所述定向天线和待测材料共线,所述聚焦透镜天线设置于所述支撑板上;所述第二电动旋转台包括第二转台、第二固定部和第二驱动组件,所述第二驱动组件固定设置于所述第二固定部上并用于驱动所述第二转台绕竖直轴线转动;所述第二固定部固定于地面上,第二转台上设置有所述支撑板,且所述第二电动旋转台能够驱动所述支撑板绕竖直轴线转动并相对于所述定向天线运动,所述电动位移台底部设置有支撑底座,所述支撑底座穿过所述支撑板并固定设置于地面上,所述支撑底座与所述第二转台同轴设置。

7.根据权利要求6所述的材料电磁反散射系数测量装置,其特征在于:还包括一接收支架,所述接收支架固定设置于地面上,所述定向天线设置于所述接收支架上。

8.根据权利要求6所述的材料电磁反散射系数测量装置,其特征在于:所述第一电动旋转台包括第一转台、第一固定部和第一驱动组件,所述第一驱动组件固定设置于所述第一固定部上并用于驱动所述第一转台绕竖直轴线转动;所述第一电动旋转台内还设置有第一限位开关,当所述第一转台与所述第一限位开关接触时,所述第一转台复位至第一机械原点,所述第一转台位于第一机械原点时所述聚焦透镜天线电磁波的发射方向与待测材料表面呈第一固定角度;且所述第一转台外表面周向设置有第一刻度,所述第一固定部上设置有指向所述第一刻度的第一刻度指针;所述第二电动旋转台内还设置有第二限位开关,当所述第二转台与所述第二限位开关接触时,所述第二转台复位至第二机械原点,所述第二转台位于第二机械原点时所述定向天线接收的电磁波方向与待测材料表面呈第二固定角度;且所述第一转台外表面周向设置有第二刻度,所述第一固定部上设置有指向所述第二刻度的第二刻度指针。

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