[实用新型]用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩

说明书

本实用新型公开了用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，包括屏蔽单元，所述屏蔽单元包括两块垂直于装载LM3射频智能标签模块的条带顶面的，与所述条带宽度方向平行的横向隔板，两块横向隔板的间距与所述条带轴向上相邻两块LM3射频智能标签模块之间的步距对应，两块所述横向隔板的长度均大于所述条带的宽度；两块所述横向隔板之间设有一块与所述条带的轴向平行的，垂直于所述条带顶面的轴向隔板，使所述屏蔽单元的水平截面形状为H形；所述轴向隔板将所述屏蔽单元分为两个全等的背对背开口的屏蔽槽，每个屏蔽槽对应条带上的一块LM3射频智能标签模块。

技术领域

本实用新型涉及微电子封装领域的用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩。

背景技术

射频智能标签模块广泛地应用在各行各业。13.56MHz频率的射频智能标签模块一般尺寸都比较大，外形尺寸类似于身份证大小。生产厂家必须要对每一片射频智能标签模块进行测试，以保证每一片射频智能标签模块是合格的产品。测试是一种一一对应的非接触射频测试，由于其面积大，而且大多数都是单排排列，在规模生产中不会有问题。对于这种普通的射频智能标签模块，采用非接触射频测试，不存在任何互相之间的干扰问题。一般不需要采取任何特殊的措施来保证测试的有效性。

装载LM3射频智能标签模块的条带沿用装载M3接触式智能标签模块条带的标准外形尺寸，LM3射频智能标签模块在宽度d0为35毫米的G10玻璃纤维布制成的条带上排列成两排，条带轴向上相邻LM3射频智能标签模块之间的步距为9.5mm,比LM4射频智能标签模块还要缩小30％。每个LM3射频智能标签模块对应条带轴向上的两个齿孔。

普通的M3接触式智能标签模块的接触面上，有六组触点。在常规的智能卡模块测试机上，利用六根接触式导电探针直接欧姆接触M3接触式智能标签模块的接触面上相对应的触点，进行各种读写及参数测试。相邻的M3接触式智能标签模块互相之间独立地进行测试。M3接触式智能标签模块的测试虽然在宽度为35毫米条带上利用接触式导电探针快速进行，相邻M3接触式智能标签模块的测试不会产生任何干扰、互不影响测试的结果。

LM3射频智能标签模块是一种带有13.56MHz射频天线的智能标签模块。相邻LM3射频智能标签模块在条带轴向上的距离b，以及相邻LM3射频智能标签模块在条带宽度方向上的距离c都仅仅只有1～2mm.因此由LM3射频智能标签模块之间相互靠近，而且LM3射频智能标签模块的尺寸仅仅是LM4射频智能标签模块的67％，所以不能用通常的方法对如此高密度排列的LM3射频智能标签模块进行一一对应的测试。

LM3射频智能标签模块没有触点，是一种非接触式的测试。它不能类似M3接触式智能标签模块，利用接触式导电探针直接进行欧姆接触方法进行测试，而是利用13.56MHz频率的射频进行非接触测试。

在非接触射频测试时，由于相邻的LM3射频智能标签模块相互之间会产生射频干扰，不采取良好而有效的射频信号隔离措施，通常无法对LM3射频智能标签模块进行有效的在线射频测试。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足，提供用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，其能够保证非接触式智能模块测试机上的测试头能完整进入对应的屏蔽槽，测试对应的LM3射频智能标签模块，在对LM3射频智能标签模块进行13.56MHz射频测试时，有效防止相邻LM3射频智能标签模块的干扰，可以对条带上的LM3射频智能标签模块进行可靠的一一对应的有效测试。

实现上述目的的一种技术方案是：用于LM3射频智能标签模块测试的屏蔽罩，包括屏蔽单元，所述屏蔽单元包括两块垂直于装载LM3射频智能标签模块的条带顶面的，与所述条带宽度方向平行的横向隔板，两块横向隔板的间距与所述条带轴向上相邻两块LM3射频智能标签模块之间的步距对应，两块所述横向隔板的长度均大于所述条带的宽度；

两块所述横向隔板之间设有一块与所述条带的轴向平行的，垂直于所述条带顶面的轴向隔板，使所述屏蔽单元的水平截面形状为H形；