[实用新型]一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置

权利要求书

1.一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：包括箱体、设置在所述箱体中的研磨机构、以及分别设置在所述箱体上的数据测量采集机构、智能驱动执行机构和主控机构；其中所述研磨机构包括自动伸缩杆、与所述自动伸缩杆垂直连接的固定杆、分别与所述固定杆的两端对应连接的两个研磨球以及设置在所述研磨球下方的研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接；所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构；所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构；所述数据测量采集机构与所述主控机构电性连接，所述主控机构与所述智能驱动执行机构电性连接。

2.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨球通过悬挂连接组件与所述固定杆相连；所述悬挂连接组件包括悬吊杆、水平杆、两个竖直杆以及连接轴，其中所述悬吊杆的上端与所述固定杆相连，所述悬吊杆的下端与所述水平杆相连，所述水平杆的两端分别对应连接两个所述竖直杆，两个所述竖直杆分别与所述连接轴的两端对应连接，所述研磨球转动安装在所述连接轴上。

3.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨机构还包括红外传感装置，所述红外传感装置包括两个发射端和一个接收端，两个所述发射端对称设置在所述固定杆的两端，所述接收端设置于所述数据测量采集机构中。

4.根据权利要求3所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨机构还包括设置在所述固定杆上的转速传感器。

5.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述自动伸缩杆包括固定部以及能够沿所述固定部进行伸缩运动的伸缩部，其中所述固定部与所述箱体的顶部连接固定，所述固定杆与所述伸缩部相连。

6.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述环境信息测量机构至少包括空气湿度传感器、空气温度传感器、空气O₂传感器、空气CO₂传感器和光照强度传感器。

7.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述样品信息测量机构至少包括样品水分传感器和样品粒径传感器。

8.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述箱体上设有进气口和排气口，所述进气口与氮气输送管道相连，所述氮气输送管道上设有抽气泵。

9.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨槽的底部设有研磨底座，所述研磨底座与所述研磨槽固定连接；所述箱体的侧壁上设有供所述研磨槽和所述研磨底座穿过的底座槽口；所述研磨底座面向所述底座槽口的一侧设有用于锁死固定所述研磨底座的槽门卡。

10.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述主控机构包括显示屏和控制按钮。