[实用新型]一种适用于光热反射法的纳米粉末热物性测量平台

说明书

本实用新型涉及一种适用于光热反射法的纳米粉末热物性测量平台，样品杯一侧设有刻度标尺，另一侧设有倾角调节器，底端设置支撑螺母，支撑螺母上设带有金属传感层的石英窗口，上方填充有待测纳米粉末，待测纳米粉末的上方设置加压活塞，加压活塞在样品杯中的高度位置由设置在样品杯侧壁上的刻度标尺示出，样品杯的下方设有物镜和45°反射镜。本实用新型的适用于光热反射法的纳米粉末热物性测量平台，可以测试纳米粉末不同松散状态、不同密度的热物性测量，且加热和测温都通过光学的手段，待测样品没有直接的物理接触，并可提高抽运探测热反射法测量不同状态纳米粉末热物性的效率，满足科学研究以及工业化生产对纳米粉末特性表征的需求。

技术领域

本实用新型属于材料热物性测量领域，涉及一种适用于光热反射法的纳米粉末热物性测量平台，可应用于抽运探测热反射法测量不同状态的纳米粉末热物性参数，该技术广泛应用于热界面材料、功能强化材料和科学研究。

背景技术

目前，混炼机、成型机及模具等大型设备的磨损大，对高热导的纳米粉末需求越来越大。热界面材料：导热硅胶垫片、导热硅脂、导热灌封胶、导热双面胶、相变化材料等掺杂高热导的纳米粉末需求。导热工程塑料：LED灯罩、开关外壳、电子产品壳体、电器产品散热部件等；导热铝基覆铜板：大功率LED电路基板、电源电路板等对高热导的纳米粉末需求越来越大。

由于纳米粉末比表面积大，蓬松，密度小，故不同的状态其孔隙度不同，密度不同，热导率不同等。对于纳米粉末的热导率的测试一般采用热线法，但热线法难以进行不同状态、密度的纳米粉末热导率测量，因而亟需一种可以测试纳米粉末不同松散状态、不同密度的热物性测量装置。光热反射法是一种非接触法的热物性测量方法，加热和测温都通过光学的手段，因而同样品没有直接的物理接触，通过本样品台设计，可以实现不同同种纳米粉末不同密度状态的热物性测量，满足科学研究以及工业化生产对纳米粉末特性表征的需求。

实用新型内容

针对现有技术的上述缺陷和不足，本实用新型的目的在于提供一种可靠的适用于光热反射法以测试不同状态纳米粉末热物性的测量平台，以提高抽运探测热反射法测量不同状态纳米粉末热物性的效率。

为实现上述目标，本实用新型所采用的技术方案为：

一种适用于光热反射法的纳米粉末热物性测量平台，包括一两端开口的圆筒状样品杯，其特征在于，

所述圆筒状样品杯的一侧设有刻度标尺，相对的另一侧设有一倾角调节器，所述倾角调节器用以调整所述圆筒状样品杯在一竖直平面内的倾角，

所述圆筒状样品杯的底端设置一带有通光孔且外壁设有外螺纹的支撑螺母，所述支撑螺母通过其外螺纹连接在所述圆筒状样品杯底端内侧上的内螺纹上，

所述支撑螺母的顶部设置一形状与所述圆筒状样品杯的内壁相适配的石英窗口，所述石英窗口的上表面设有金属传感层，所述金属传感层的上方填充有待测纳米粉末，所述待测纳米粉末的上方设置一可沿所述圆筒状样品杯的内壁上下滑动的加压活塞，所述加压活塞上设置一加压推杆，所述加压推杆用以对所述加压活塞施加压力，继而由所述加压活塞将所施加的压力作用到所述待测纳米粉末上，所述加压活塞在所述圆筒状样品杯中的高度位置以及所述待测纳米粉末的厚度由设置在所述圆筒状样品杯侧壁上的所述刻度标尺示出，

所述圆筒状样品杯的下方设有一物镜和一45°反射镜，所述45°反射镜用以将水平入射抽运光通过所述物镜以及所述支撑螺母的通光孔垂直反射到所述石英窗口上表面的金属传感层上，所述金属传感层上产生的探测光依次通过所述石英窗口、所述支撑螺母的通光孔、所述物镜垂直入射至所述45°反射镜上，并最终由所述45°反射镜水平射出。

进一步地，所述金属传感层上产生的探测光由所述45°反射镜水平反射至一抽运探测反射系统中，且所述抽运光光亦有所述抽运探测反射系统发出。

进一步地，所述圆筒状样品杯整体支撑设置在一XYZ三向可调的支撑架上。