[实用新型]一种用于探针测试工艺的中心校准机构

说明书

本实用新型涉及一种用于探针测试工艺的中心校准机构，它属于PCB测试工艺领域。本实用新型包括滑套、中心轴、压簧和限位端盖，滑套与中心轴配合，压簧的上端与滑套相连，该压簧的下端与中心轴相连，限位端盖设置在中心轴的上方，该限位端盖与中心轴连接。本实用新型结构设计合理，安全可靠，低成本，装拆方便，免维护，自动实现中心校准。

技术领域

本实用新型涉及一种校准机构，尤其是涉及一种用于探针测试工艺的中心校准机构，它属于PCB测试工艺领域。

背景技术

探针测试在PCB测试工艺中广泛应用，但所有测试机构都需要保证高精度的中心对准，否则探针测试会产生探针偏移、接触不良，或因两侧不平行导致的一侧接触一侧未接触的情况，严重的甚至导致探针折断、损坏工件等情况。

因此，提供一种结构简单合理，安全可靠，低成本，免维护的用于探针测试工艺的中心校准机构，显得尤为必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种结构设计合理，安全可靠，低成本，装拆方便，免维护，自动实现中心校准的用于探针测试工艺的中心校准机构。

本实用新型解决上述问题所采用的技术方案是：该用于探针测试工艺的中心校准机构，包括滑套与中心轴，所述滑套与中心轴配合，其特征在于：还包括压簧和限位端盖，所述压簧的上端与滑套相连，该压簧的下端与中心轴相连，限位端盖设置在中心轴的上方，该限位端盖与中心轴连接；整体结构简单合理，低成本，免维护，自动实现中心校准，满足使用要求。

作为优选，本实用新型还包括锁紧螺钉，所述限位端盖与中心轴通过锁紧螺钉固定；稳定牢固。

作为优选，本实用新型所述中心轴的中心线与限位端盖的中心线在同一直线上；使得定位精度和重复精度更精确。

本实用新型与现有技术相比，具有以下优点和效果：整体设计简单合理，此中心校准机构可在无外部动力的状态下，实现探针测试机构的自动中心校准；因探针测试属于高精密测试工艺，需要较高的定位精度和重复精度，使用常规校准方式成本高昂，且需要电气控制，结构复杂；此机构低成本、免维护、自动实现中心校准。

附图说明

图1是本实用新型实施例的剖视结构示意图。

图2是图1的局部放大结构示意图。

图3是本实用新型实施例在探针测试中的应用结构示意图。

图中：中心轴1，压簧2，滑套3，限位端盖4，锁紧螺钉5，探针测试本体6，导向插头7，探针测试机构Ⅰ，中心校准机构Ⅱ。

具体实施方式

下面结合附图并通过实施例对本实用新型作进一步的详细说明，以下实施例是对本实用新型的解释而本实用新型并不局限于以下实施例。

实施例。

参见图1至图3，本实施例用于探针测试工艺的中心校准机构Ⅱ包括中心轴1、压簧2、滑套3和限位端盖4，滑套3与中心轴1配合，压簧2的上端与滑套3相连，该压簧2的下端与中心轴1相连，限位端盖4设置在中心轴1的上方，该限位端盖4与中心轴1连接。

本实施例的限位端盖4与中心轴1通过锁紧螺钉5固定；中心轴1的中心线与限位端盖4的中心线在同一直线上。