[实用新型]一种倒装LED芯片收光测试机有效

专利信息
申请号: 201820889149.3 申请日: 2018-06-08
公开(公告)号: CN208188267U 公开(公告)日: 2018-12-04
发明(设计)人: 王淑琴 申请(专利权)人: 湖州靖源信息技术有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 郭晓凤
地址: 313000 浙江省湖州市湖州经济*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 倒装LED芯片 测试系统 收光 本实用新型 测试机本体 测试探针 传输系统 对准系统 上料系统 测试机 对准 水平度调节 光谱仪 测试电压 电学参数 光学参数 控制系统 送料系统 积分球 贴靠 引脚 运输 发光 施加 配合
【说明书】:

实用新型提供了一种倒装LED芯片收光测试机,包括测试机本体,所述测试机本体包括控制系统、水平度调节系统、送料系统、运输传输系统、精确对准系统和测试系统,本实用新型上料系统可同时放置多个待测倒装LED芯片,运输传输系统和精确对准系统相互配合,将测试系统逐个的对准待测倒装LED芯片,对准之后,上料系统将待测倒装LED芯片提升并贴靠在测试系统上,使得测试系统底部的一对测试探针接触待测倒装LED芯片的正负引脚并施加相应的测试电压,使待测倒装LED芯片发光,光线经收光口被积分球收集,通过光谱仪计算可得到待测倒装LED芯片的光学参数,测试探针可测得待测倒装LED芯片的电学参数。

技术领域

本实用新型涉及倒装LED芯片性能测试设备技术领域,特别涉及一种倒装LED芯片收光测试机。

背景技术

随着LED技术的快速发展,LED路灯、LED闪光灯、LED强光手电筒、LED汽车大灯等产品开始进入普通人的生活,但由于传统正装 LED芯片受限于较小的功率、电流分布不够均匀和散热性能较差的原因,各大LED芯片企业将研发方向转向可以承受较高功率且散热能力较好的倒装LED芯片。

倒装LED芯片较之传统正装LED芯片,光效和生产成本均有不同程度的改善,因此倒装LED芯片在LED技术应用中的重要性也愈发突出。在倒装LED芯片制造过程中,收光测试是判断芯片质量好坏的关键步骤。由于倒装LED芯片的结构与传统正装LED芯片具有较大区别,因此不能使用传统正装LED芯片的收光测试装置来对倒装LED芯片进行收光测试,需要开发出效率更高、成本更低的专门用于倒装LED芯片的收光测试装置。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

为了解决上述问题,本实用新型提供了一种倒装LED芯片收光测试机,上料系统可同时放置多个待测倒装LED芯片,运输传输系统和精确对准系统相互配合,将测试系统逐个的对准待测倒装LED芯片,对准之后,上料系统将待测倒装LED芯片提升并贴靠在测试系统上,使得测试系统底部的一对测试探针接触待测倒装LED芯片的正负引脚并施加相应的测试电压,使待测倒装LED芯片发光,光线经收光口被积分球收集,通过光谱仪计算可得到待测倒装LED芯片的光学参数,测试探针可测得待测倒装LED芯片的电学参数,从而完成对待测倒装LED芯片的收光测试,可批量进行测试,测试效率高,成本低。

(二)技术方案

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