[实用新型]一种快速LED灯珠光电参数综合测试系统

说明书

本实用新型公开了一种快速LED灯珠光电参数综合测试系统，光学机械结构包括半圆环柱(中间均匀开出17个测试孔)，半圆环柱与待测LED灯珠中间放有光阑，待测LED灯珠安放在二维旋转台，待测LED灯珠与各测试孔在同一平面上，待测LED灯珠使用数控恒流源供电，16个测试孔中放入带匹配视觉函数V(λ)的滤波片光度探头，测试数据传送到计算机，1个测试孔中耦合光纤将光信息导入微型光谱仪，光谱数据传送到计算机。本实用新型利用多测量通道和步进电机的细分转动可以快速完成LED大部分光电性能参数，加入数字恒流源电路可以完成不同电流下的发光参数和发光能效率。

技术领域

本实用新型涉及测量系统，具体为一种用于快速测量LED灯珠光电参数的综合测试系统，应用于计量测试领域。

背景技术

LED灯珠光电参数的综合测试系统用于对各种LED灯珠发光特性及光电参数进行测量的一种计量测试仪器，早期发光二极管(LED)主要作为指示灯，一般对其只在颜色和、从高亮LED发明以来，LED光电参数测量普遍存在测量误差大，结果再现性较差的问题，因此对LED光电性能优劣评判标准一直存在争议。LED作为一种新型照明光源，需要知道其发光强度分布、最大发光强度方向、发光光通量、色温、能效等参数，因此对LED常用光电参数进行综合测量可以提高效率、节约测量时间，减少工作强度，减少测量仪表。

目前对LED的发光参数描述，很多测试方法仅仅是一个定性描述，测试条件测量精度并没有严格定量规定，目前市场上应用的测量设备都是单点测量，但不同用途的LED各种技术指标并不相同，对光轴外的参数也需要测量，通常做法为通过一个光电探测器测量某一方向上的光强度，将LED固定在二维步进平台，通过步进电机的旋转，逐点测量LED的光强度分布，如此测量结构简单，但是速度特别慢，时间太长，在漫长测量时间内容可能有环境变化，无法对多参数进行同时测量(比如光谱功率分布)。

本实用新型一种用于快速测量LED灯珠光电参数的综合测试系统，利用多测量通道和步进电机的细分转动可以快速完成LED大部分光电性能参数，加入数字恒流源电路可以完成不同电流下的发光参数和发光能效率。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于为了解决上述现实问题而提供一种用于快速测量LED灯珠光电参数的综合测试系统。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的，一种用于快速测量LED灯珠光电参数的综合测试系统的光照射空间，包括16个带视觉函数V(λ)的滤光片的光度探头分别嵌入在半圆环柱(1)的测试孔(2)中，16个测试孔如图所示在测试面的10°、20°、30°、40°、50°、60°、70°、80°、100°、 110°、120°、130°、140°、150°、160°和170°，与二维旋转台(9) 的步进电机协作完成半球空间2°以内点的光度测量，光谱参数由与90°位置的测试孔(7)耦合的光纤(6)导出，测试孔(2、7)与待测LED灯珠间有光阑(13)，并且整个半圆环柱(1)、光阑(13)、密封的铁质箱子(3) 内壁全部氧化黑处理以消除光的多次反射引起的干扰。

优选的，光度探头采用硅光电池，探头前面加V(λ)滤光片，保证对LED 灯珠光度测量符合人眼对光的感应度与视觉函数相匹配。照射在测试孔(7) 光信息通过光纤(6)传送到光谱光度计(5)，光谱光度计(5)的光谱分辨率小于2nm；

优选的，数控直流电流源(12)电流输出精度在0.1mA以上；可以步进增加和减小输出电流，步幅0.1mA；

优选的二维旋转台，可数字控制旋转步进角度小于2°，精度0.5°以上，确保空间测量角度2°以内。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型半圆环柱(1)正视结构示意图；

图3为本实用新型二维旋转台(9)结构示意图。