[实用新型]一种高维持电压NPNPN型双向可控硅静电防护器件有效
申请号: | 201820882947.3 | 申请日: | 2018-06-07 |
公开(公告)号: | CN208189589U | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | 汪洋;骆生辉;陈锡均;金湘亮;董鹏 | 申请(专利权)人: | 湖南静芯微电子技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L23/60;H01L29/747 |
代理公司: | 湘潭市汇智专利事务所(普通合伙) 43108 | 代理人: | 颜昌伟 |
地址: | 410199 湖南省长沙市经济*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 注入区 维持电压 静电防护器件 本实用新型 双向可控硅 高压N阱 衬底 导通 静电释放器件 雪崩击穿 电压低 电阻 锁住 耗尽 两边 | ||
1.一种高维持电压NPNPN型双向可控硅静电防护器件,其特征在于:包括
P型衬底;
所述P型衬底中设有N型埋层;
所述N型埋层上从左到右依次设有第一N型深阱、高压N阱、第二N型深阱;
所述高压N阱上从左到右依次设有第一N阱、第一P阱、第二N阱、第二P阱、第三N阱、第三P阱和第四N阱;
所述第一P阱内从左到右依次设有第一P+注入区、第一N+注入区,第一P阱与第二N阱之间跨接有第二N+注入区;
第三N阱与第三P阱支架跨接有第三N+注入区,所述第三P阱内从左到右依次设有第三N+注入区、第四N+注入区;
所述第一P+注入区、第一N+注入区连接在一起并作为器件的阳极,所述第四N+注入区、第二P+注入区连接在一起并作为器件的阴极。
2.根据权利要求1所述的高维持电压NPNPN型双向可控硅静电防护器件,其特征在于:所述第一P+注入区左侧和P型衬底左侧边缘之间为第一场氧隔离区,第一P+注入区右侧与第一N+注入区左侧连接,第一N+注入区右侧和第二N+注入区左侧之间为第二场氧隔离区,第二N+注入区右侧和第三N+注入区左侧之间为第三场氧隔离区,第三N+注入区右侧和第四N+注入区左侧之间为第四场氧隔离区,第四N+注入区右侧与第二P+注入区左侧连接,第二P+注入区右侧和P型衬底右侧边缘之间为第五场氧隔离区。
3.根据权利要求1所述的高维持电压NPNPN型双向可控硅静电防护器件,其特征在于,所述静电防护器件的等效电路包括:
第一NPN型晶体管,其中第一N+注入区作为第一NPN型晶体管的发射极,第一P阱作为第一NPN型晶体管的基极,第二N+注入区、第二N阱、高压N阱、第三N阱和第三N+注入区作为第一NPN型晶体管的集电极;
第一PNP型晶体管,其中第一P阱作为第一PNP型晶体管的集电极,第二N+注入区、第二N阱、高压N阱、第三N阱、第三N+注入区作为第一PNP型晶体管的基极,第三P阱作为第一PNP型晶体管的发射极;
第二NPN型晶体管,其中第二N+注入区、第二N阱、高压N阱、第三N阱、第三N+注入区作为第二NPN型晶体管的集电极,第三P阱作为第二NPN型晶体管的基极,第四N+注入区作为第二NPN型晶体管的发射基;
在第一P阱中形成的第一P阱寄生电阻;
在第二P阱中形成的第二P阱寄生电阻;
在高压N阱左半部分形成的第一高压N阱寄生电阻;
在高压N阱右半部分形成的第二高压N阱寄生电阻。
4.根据权利要求3所述的高维持电压NPNPN型双向可控硅静电防护器件,其特征在于,所述等效电路中,第一P阱寄生电阻的一端和第一NPN型晶体管的发射极连接在一起并作为器件阳极,第一P阱寄生电阻的另一端、第一NPN型晶体管的基极、第一PNP型晶体管的集电极连接在一起,所述第一高压N阱寄生电阻的一端连接第一NPN型晶体管的集电极,第一高压N阱寄生电阻的另一端、第一PNP型晶体管的基极、第二高压N阱寄生电阻的一端连接在一起,第二高压N阱寄生电阻的另一端连接第二NPN型晶体管的集电极,第二NPN型晶体管的基极、第一PNP型晶体管的发射极、第二P阱寄生电阻的一端连接在一起,第二P阱寄生电阻的另一端与第二NPN型晶体管的发射极连接在一起并作为器件阴极。
5.根据权利要求4所述的高维持电压NPNPN型双向可控硅静电防护器件,其特征在于:当高压ESD脉冲来到器件阳极,器件阴极接地电位时,第三N+注入区与第三P阱被反偏;若脉冲电压高于第三N+注入区与第三P阱所形成的反偏PN结的雪崩击穿电压,器件内产生雪崩电流,电流经第二P阱寄生电阻流向阴极,当第二P阱寄生电阻的电压高于第二NPN型晶体管的be结正向导通电压时,第二NPN型晶体管开启,开启的第二NPN型晶体管为第一PNP型晶体管提供基极电流,随后,第一PNP型晶体管开启并为第二NPN型晶体管提供基极电流;此后即使没有雪崩电流产生,第二NPN型晶体管和第一PNP型晶体管已构成了正反馈回路,由第一PNP型晶体管和第二NPN型晶体管构成的SCR结构被导通,泄放静电;同理,当阴极出现ESD脉冲时,或者阳极出现负ESD电压脉冲时,第一P阱与第二N+注入区雪崩击穿,随后,由第一PNP型晶体管和第一NPN型晶体管构成的SCR结构导通泄放静电。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的