[实用新型]一种激光物证仪有效
申请号: | 201820878687.2 | 申请日: | 2018-06-07 |
公开(公告)号: | CN208206801U | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 杨伟 | 申请(专利权)人: | 成都自序电子科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G02B27/09 |
代理公司: | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人: | 张玲;代平 |
地址: | 610041 四川省成都市中国(四川)自由*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光准直镜 激光 半导体激光器阵列 柱面镜 慢轴 半导体激光器 物证仪 匀化器 快轴 本实用新型 二维阵列 高均匀度 合成效果 平顶激光 平行设置 依次设置 照明光斑 高功率 激光束 准直 垂直 | ||
本实用新型涉及一种激光物证仪,包括半导体激光器阵列、快轴激光准直镜、慢轴激光准直镜以及激光匀化器,其中,半导体激光器阵列包括若干半导体激光器,半导体激光器按照m×n二维阵列布置;快轴激光准直镜和慢轴激光准直镜分别包括m个和n个相互平行设置的柱面镜;快、慢轴激光准直镜以及激光匀化器依次设置在半导体激光器阵列的光路上,快轴激光准直镜中的柱面镜与慢轴激光准直镜中的柱面镜相互垂直,且柱面镜分别对应半导体激光器阵列中的一行或一列半导体激光器,激光匀化器用于使激光均匀分布;本激光物证仪,结构紧凑,可以实现高功率,激光束的准直及合成效果好,并且可以获得高均匀度的平顶激光照明光斑。
技术领域
本实用新型涉及物证勘查技术领域,具体涉及一种激光物证仪。
背景技术
痕迹显影法,是利用特种光源照射未知痕迹表面(目测无痕迹表面)所激发出荧光的方法;激光光源具有亮度高、单位面积光能量强、单色性好等特点,成为特种光源里最适合痕迹显影法的光源,激光物证仪是根据痕迹显影法的原理制造而成的,早已成为刑侦部门不可或缺的办案工具。
激光物证仪中通常采用半导体激光器作为发射光源,利用半导体激光器所产生的激光形成照明光斑,单个半导体激光器的功率达不到激光物证仪的应用要求,因此需要多个半导体激光器拼接,产生更大的功率,以满足高功率的要求,现有技术中,通常采用的是半导体激光器阵列技术,从激光束的产生到形成照明光斑的过程中,还需要对激光束进行准直、合成以及匀化等操作;然而,现有技术中,采用半导体激光器阵列的激光物证仪中,激光束的准直、合成以及匀化等效果较差,不易获得良好的照明光斑。
实用新型内容
本实用新型的目的在于改善现有技术中所存在的不足,提供一种激光物证仪,采用半导体激光器阵列实现高功率,结构紧凑,激光束的准直及合成效果好,并且可以获得高均匀度的平顶激光照明光斑。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种激光物证仪,包括半导体激光器阵列、快轴激光准直镜、慢轴激光准直镜以及激光匀化器,其中,
所述半导体激光器阵列包括若干半导体激光器,所述半导体激光器按照m×n二维阵列布置,m和n均为正整数;
所述快轴激光准直镜包括m个相互平行设置的柱面镜,所述慢轴激光准直镜包括n个相互平行设置的柱面镜;
所述快轴激光准直镜、慢轴激光准直镜以及激光匀化器依次设置在所述半导体激光器阵列的光路上,快轴激光准直镜中的柱面镜与慢轴激光准直镜中的柱面镜相互垂直,且所述柱面镜分别对应所述半导体激光器阵列中的一行或一列半导体激光器,所述快轴激光准直镜及慢轴激光准直镜分别用于对半导体激光器的快轴和慢轴进行准直,所述激光匀化器用于使激光均匀分布。
优选地,所述柱面镜采用的是平凸柱面镜。柱面镜的种类多种多样,常用的柱面镜有,平凸柱面镜、平凹柱面镜、双凸柱面镜、双凹柱面镜、弯月柱面镜、消色差柱面镜、非球面柱面镜、离轴抛物面柱面镜、带角度柱面镜、扇形柱面镜等,均可用于本申请中半导体激光器快轴或慢轴的准直。
优选地,所述激光匀化器可以采用微透镜阵列或匀光衍射器件。
优选地,所述快轴激光准直镜和/或所述慢轴激光准直镜和/或所述激光匀化器采用的是圆形结构,或矩形结构,或正多边形结构,或椭圆形结构。
进一步地,所述快轴激光准直镜、慢轴激光准直镜以及激光匀化器均采用的是矩形结构。
优选地,所述快轴激光准直镜和/或慢轴激光准直镜是由若干柱面镜拼接而成,或采用一体化的阵列柱面镜。
优选地,所述快轴激光准直镜或所述慢轴激光准直镜包括回字型框架和若干柱面镜,所述回字型框架的侧壁面上设置有螺纹孔,所述螺纹孔用于快轴激光准直镜或慢轴激光准直镜的固定,所述回字型框架中的一对相互平行的侧壁面上,分别设置有槽口,所述槽口用于安装所述柱面镜。
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