[实用新型]一种激光物证勘查仪

权利要求书

1.一种激光物证勘查仪，其特征在于，包括基板、激光器阵列、准直器以及透镜，所述激光器阵列包括若干激光器，所述激光器均为半导体激光器，所述激光器阵列设置在所述基板上，半导体激光器产生的激光经所述准直器准直之后，从所述透镜射出。

2.根据权利要求1所述的激光物证勘查仪，其特征在于，所述激光器阵列中的半导体激光器按照m×n二维阵列方式设置在所述基板上，或按照正三角形排列设置在所述基板上，或按照等腰三角形排列设置在所述基板上。

3.根据权利要求2所述的激光物证勘查仪，其特征在于，所述激光器阵列的几何中心位于所述准直器的轴线上。

4.根据权利要求3所述的激光物证勘查仪，其特征在于，所述按照m×n二维阵列方式设置的激光器阵列中，相邻两行半导体激光器之间的行间距相同或不同，相邻两列半导体激光器之间的列间距相同或不同。

5.根据权利要求4所述的激光物证勘查仪，其特征在于，相邻两行半导体激光器之间的行间距相同，相邻两列半导体激光器之间的列间距相同，且所述行间距与所述列间距相同。

6.根据权利要求5所述的激光物证勘查仪，其特征在于，所述激光器阵列包括四个半导体激光器。

7.根据权利要求3所述的激光物证勘查仪，其特征在于，所述激光器阵列包括五个半导体激光器或六个半导体激光器，所述五个半导体激光器或所述六个半导体激光器按照等腰三角形排列设置在所述基板上。

8.根据权利要求3所述的激光物证勘查仪，其特征在于，所述激光器阵列包括七个半导体激光器，所述七个半导体激光器按照正三角形排列设置在所述基板上。

9.根据权利要求5所述的激光物证勘查仪，其特征在于，所述激光器阵列包括九个半导体激光器，所述九个半导体激光器按照3×3二维阵列方式设置在所述基板上，或按照等腰三角形排列设置在所述基板上。

10.根据权利要求1-9任一所述的激光物证勘查仪，其特征在于，还包括图像采集模块和壳体，所述基板、激光器阵列、准直器、透镜以及所述图像采集模块均设置在壳体的内部，基板固定在所述壳体上，所述准直器及透镜依次设置在激光器阵列的光路上，所述图像采集模块用于对痕迹物证进行采集。