[实用新型]一种测头有效
申请号: | 201820875538.0 | 申请日: | 2018-06-06 |
公开(公告)号: | CN208528669U | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 郭军 | 申请(专利权)人: | 深圳市海纳川机电有限公司 |
主分类号: | B23Q17/20 | 分类号: | B23Q17/20;B23Q17/22 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 唐致明 |
地址: | 518000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光源组件 过滤环 头部组件 测针 测头 本实用新型 光线通过 干扰光源 环绕设置 密封保护 外界光线 组件固定 传送 环绕 | ||
本实用新型涉及一种测头,其包括有头部组件、测针组件、光源组件、保护环和过滤环,所述测针组件固定在所述头部组件上,所述光源组件设置在头部组件和测针组件之间,所述过滤环环绕所述光源组件设置,所述过滤环只允许光源组件发出的光线通过,所述保护环固定在所述头部组件和测针组件之间,且可对所述光源组件和过滤环进行密封保护。本实用新型在光源组件外环绕设置有过滤环,该过滤环只允许光源组件发出的光线通过,由此可避免外界光线进入测头,干扰光源组件的光信号的识别,同时光源组件的光线将更加纯粹,有利于使用者进行识别及有利于光信号的稳定传送。
技术领域
本实用新型涉及数控机床在线测量领域,尤其涉及一种测头。
背景技术
数控机床的应用使得机械加工效率大大提高,高速、高精度、自动加工和高的成品率的特点使得生产成本大幅降低,直接提高了产品的竞争力。然而,在产品加工过程中,有时需要对产品的中间尺寸进行测量来把控生产质量,同时,还存在变换工件加工位置和调整切割刀具的情形,这些辅助动作会占去大量的加工时间,因此,随着数控机床的发展,开发出了自动测量技术。
数控机床测头是一种安装在机床主轴上的用于直接对刀具或工件的尺寸及位置进行测量的装置,测头一般会通过光信号来反馈其电源连通状态和测针触碰情况,然而在加工过程中,存在着较多的光线干扰,会使得测头反馈的光信号不清晰或不稳定,这种情况需要加以考虑并解决。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题,在于提供一种可避免外界光线干扰,光源组件的指示更为清晰、传递的光信号更为稳定可靠的测头。
本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案是:
一种测头,包括有头部组件、测针组件、光源组件、保护环和过滤环,所述测针组件固定在所述头部组件上,所述光源组件设置在头部组件和测针组件之间,所述过滤环环绕所述光源组件设置,所述过滤环只允许光源组件发出的光线通过,所述保护环固定在所述头部组件和测针组件之间,且可对所述光源组件和过滤环进行密封保护。在一种优选的实施方式中,所述光源组件包括有指示灯和信号发射器。
在一种优选的实施方式中,所述指示灯可发出红光、蓝光和黄光的其中一种或多种光线。
在一种优选的实施方式中,所述信号发射器为红外线发射器。
在一种优选的实施方式中,所述过滤环由红外线穿透PC材料制成。
在一种优选的实施方式中,所述头部组件和测针组件相临近的一侧均设置有凹槽,所述保护环卡接在所述凹槽中。
在一种优选的实施方式中,所述凹槽与所述保护环之间还设置有密封圈。
在一种优选的实施方式中,所述保护环为石英玻璃环。
本实用新型的有益效果是:
本实用新型在光源组件外环绕设置有过滤环,该过滤环只允许光源组件发出的光线通过,由此可避免外界光线进入测头,干扰光源组件的光信号的识别,同时光源组件的光线将更加纯粹,有利于使用者进行识别及有利于光信号的稳定传送。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步说明。
图1是本实用新型一个实施例的测头的轴测图;
图2a是本实用新型一个实施例的测头的正视图;
图2b是本实用新型一个实施例的测头的剖视图;
图3是本实用新型一个实施例的测头的爆炸图。
具体实施方式
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