[实用新型]一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备有效
| 申请号： | 201820874561.8 | 申请日： | 2018-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN208607158U | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 周永南;冯煜 | 申请（专利权）人： | 江阴通利光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 | 代理人： | 蒋骏杰 |
| 地址： | 214411 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学膜 点光源 片装置 膜夹 围挡 遮光 测试台装置 测试平台 检测 微透镜阵列 圆形光斑 瑕疵检测 镂空区域 微结构 压膜片 载膜 本实用新型 上下贯穿 圆度 测量 承载 覆盖 | ||
1.一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于，包括一测试台装置，所述测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；
所述点光源安装在所述测试平台的上方，所述点光源的发光方向朝上；
所述遮光围挡安装在所述测试平台的上方，所述遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，所述点光源位于所述镂空区域；
还包括一待测膜夹片装置，所述待测膜夹片装置覆盖在所述遮光围挡的上方，所述待测膜夹片装置、所述遮光围挡以及所述测试平台三者围成一容纳所述点光源的空腔；
所述待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，所述载膜片设置在所述压膜片的下方。
2.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述遮光围挡是遮光材料制成的遮光围挡。
3.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述遮光围挡包括环状基体以及涂覆在环状基体内侧或者外侧的遮光涂层。
4.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述遮光围挡包括一固定子遮光围挡，所述固定子遮光围挡固定安装在所述测试平台的上方；
所述遮光围挡还包括至少一个活动子遮光围挡，活动子遮光围挡堆叠在所述固定子遮光围挡的上方。
5.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述点光源为单点LED光源，所述点光源的照度大于1000勒克斯。
6.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述载膜片是聚碳酸脂板材制成载膜片。
7.根据权利要求4所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述固定子遮光围挡或活动子遮光围挡的外缘设有向上延伸的限位装置。
8.根据权利要求1或7所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述压膜片上设置有合格的待测光学膜经点光源照射构成的圆形光斑的外圆形状相匹配的圆形轮廓标识；
所述压膜片上还设置有经过圆形轮廓标识的圆心的直线状标识。
9.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：还包括一CCD装置，所述CCD装置位于所述待测膜夹片装置的正上方，所述CCD装置的采集方向朝下。
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