[实用新型]一种DIP封装系列电路外观AVI自动画像检测装置有效
申请号: | 201820861015.0 | 申请日: | 2018-06-04 |
公开(公告)号: | CN208239315U | 公开(公告)日: | 2018-12-14 |
发明(设计)人: | 于波;李军 | 申请(专利权)人: | 无锡通芝微电子有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/01 |
代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 聂启新 |
地址: | 214100 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 摄像头 光源 摄像头安装 检测装置 同一轴线 测试位 封装 画像 电路 全自动分选机 本实用新型 自动上下料 产品外观 光源安装 自动检查 轨道 红圈 同轴 检测 检查 | ||
本实用新型涉及一种DIP封装系列电路外观AVI自动画像检测装置,包括第一摄像头、第二摄像头、第三摄像头、第四摄像头,第三摄像头安装有第三圈光源,第四摄像头安装有第四圈光源,第一摄像头、第二摄像头、第三摄像头、第四摄像头中间安装有测试位轨道,测试位轨道通过红圈光源安装有同轴条光源;第一摄像头与第二摄像头在同一轴线上,第三摄像头与第四摄像头在同一轴线上。其结构简单,可以完成产品外观的自动检查,同时通过全自动分选机完成自动上下料,提高了检测的精度和检查效率。
技术领域
本实用新型涉及电路外观检查技术领域,尤其是一种DIP封装系列电路外观AVI自动画像检测装置。
背景技术
目前,通常使用一个摄像头对电路上表面进行外观检查,一般使用单色光源进行检查。
现有技术中,DIP封装产品在测试完成后,进行人工目视外观检查。但是人工目视外观检查存在检查正确性差和检查效率低的问题。此外,因DIP电路引脚较长与树脂面成垂直状,引脚表面与树脂表面不在同一平面,使用一个摄像头无法同时检查引脚表面与树脂表面及引脚寸法。且电路较大,在寸法检测时如用一般镜头会出现边缘失真的问题。
实用新型内容
本申请人针对上述现有生产技术中的缺点,提供一种DIP封装系列电路外观AVI自动画像检测装置,从而设计了新的自动外观检查系统,完成产品外观的自动检查,通过上下左右四个摄像头组成的外观检测系统对DIP制品进行Mark面、树脂面、引脚表面、引脚寸法的全方位的外观测试。同时通过全自动分选机完成自动上下料,一方面实现了检查的自动化,另一方面提高了检查的精度。
本实用新型所采用的技术方案如下:
一种DIP封装系列电路外观AVI自动画像检测装置,包括第一摄像头、第二摄像头、第三摄像头、第四摄像头,第三摄像头安装有第三圈光源,第四摄像头安装有第四圈光源,第一摄像头、第二摄像头、第三摄像头、第四摄像头中间安装有测试位轨道,测试位轨道通过红圈光源安装有同轴条光源;第一摄像头与第二摄像头在同一轴线上,第三摄像头与第四摄像头在同一轴线上。
其进一步技术方案在于:
测试位轨道成直线型结构,包括第一阻挡块、第二阻挡块,测试位轨道上安装有第一产品、第二产品。
本实用新型的有益效果如下:
本实用新型结构紧凑、合理,操作方便,通过DIP产品画像处理技术,远心镜头的使用对应的检查条件,进行图像失真优化。新的自动外观检查系统,完成了产品外观的自动检查,通过上下左右四个摄像头组成的外观检测系统对DIP制品进行Mark面、树脂面、引脚表面、引脚寸法的全方位的外观测试。同时通过全自动分选机完成自动上下料。一方面实现了检查的自动化,另一方面提高了检查的精度。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为本实用新型测试位轨道的结构示意图。
图3为本实用新型测试位轨道的结构示意图(侧下方视角)。
其中:1、第三摄像头;2、第三圈光源;3、同轴条光源;4、红圈光源;5、测试位轨道;501、第一阻挡块;502、第一产品;503、第二阻挡块;504、第二产品;6、第四圈光源;7、第四摄像头;8、第一摄像头;9、第二摄像头。
具体实施方式
下面结合附图,说明本实用新型的具体实施方式。
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