[实用新型]一种光电耦合器测试装置有效

专利信息
申请号: 201820813858.3 申请日: 2018-05-29
公开(公告)号: CN208224391U 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 刘欣 申请(专利权)人: 成都市汉桐集成技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 成都睿道专利代理事务所(普通合伙) 51217 代理人: 陶红
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
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【说明书】:

实用新型公开了一种光电耦合器测试装置,包括源表、控制模块、电压源和光耦安装模块;所述的光耦安装模块具有输入阳极端、输入阴极端、输出集电极端和输出发射极端,所述的输入阴极端和所述的输出发射极端接地连接;所述的源表的输出端连接至所述的输入阳极端,并在两者的连接电路上设置有开关模块;所述的源表的输出端还连接至所述的输出集电极端,并在两者的连接电路上设置有开关模块;所述的电压源连接至所述的输入阳极端。本实用新型的光电耦合器测试装置,能实现多种技术参数测试,结构简单,测试效率高。

技术领域

本实用新型属于光耦检测技术领域,具体涉及一种光电耦合器测试装置。

背景技术

光电耦合器是以光为媒介传输电信号的一种电一光一电转换器件。它由发光源和受光器两部分组成。把发光源和受光器组装在同一密闭的壳体内,彼此间用透明绝缘体隔离。发光源的引脚为输入端,受光器的引脚为输出端,常见的发光源为发光二极管,受光器为光敏二极管、光敏三极管等等。

光电耦合器在生产制造过程中,都需要通过一些技术参数测试,例如发光二极管正向压降VF、正向电流IF、电流传输比CTR、输入级与输出级之间的绝缘电阻、集电极-发射极反向击穿电压V(BR)CEO、集电极-发射极饱和压降VCE(sat)等。

但是,现有的光电耦合器的测试,根据测试项目不同,需要不同的测试装置完成对应的测试,设备装置较多,测试效率低下,操作不便。

实用新型内容

本实用新型的目的在于:针对现有技术中存在的问题,提供一种光电耦合器测试装置,实现对光电耦合器的多种技术参数测试功能于一体,电路结构简单,操作方便,测试效率高。

为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:

一种光电耦合器测试装置,包括源表、控制模块、电压源和光耦安装模块;

所述的光耦安装模块具有输入阳极端、输入阴极端、输出集电极端和输出发射极端,所述的输入阴极端和所述的输出发射极端接地连接;

所述的源表的输出端连接至所述的输入阳极端,并在两者的连接电路上设置有开关模块;

所述的源表的输出端还连接至所述的输出集电极端,并在两者的连接电路上设置有开关模块;

所述的电压源连接至所述的输入阳极端。

进一步地,还包括控制模块,所述的控制模块控制所述的开关模块的启闭。

进一步地,所述的开关模块采用继电器。

进一步地,所述的光耦安装模块设置有多个,并在所述的多个光耦安装模块的输入阳极端设置有开关模块、用以切换及启闭输入电源,在所述的多个光耦安装模块的输出集电极端设置有开关模块、用以切换及启闭输入电源。

进一步地,所述的输入阳极端和输出集电极端分别连接有保护电阻。

进一步地,所述的电压源包括第一电压源和第二电压源,第一电压源的输出端和第二电压源的输出端设置有开关模块、用以切换及启闭输入电压源。

由于采用了上述技术方案,本实用新型的有益效果是:

本实用新型的光电耦合器测试装置,能够实现在同一设备上对光电耦合器的IR测试、VF测试、ICEO测试、VBR(CEO)测试、CTR测试和VCESAT测试,电路结构简单,测试过程操作方便,测试效率高。

附图说明

图1是本实用新型的光电耦合器测试装置的电路原理框图。

图2是光电耦合器的结构原理图。

附图标记:1-源表,2-电压源,3-光耦安装模块。

具体实施方式

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