[实用新型]一种ICT测试仪

权利要求书

1.一种ICT测试仪，其特征在于，包括

天板(1)，受驱动地朝向电路板(2)的元件面移动；

电气元件引脚测试机构(3)，设置在所述天板(1)上，用于测试引脚(5)位于所述元件面上的电气元件(4)是否可以正常使用；

电解电容插反测试机构(7)，设置在所述天板(1)上，用于测试所述元件面上的电解电容(8)是否插反；

针座插反测试机构(12)，设置在所述天板(1)上，用于测试所述元件面上待测试的针座(13)是否插反。

2.根据权利要求1所述的ICT测试仪，其特征在于，所述电解电容插反测试机构(7)包括受所述天板(1)驱动与位于所述电路板(2)元件面上的电解电容(8)外壳电连接的第一探针(9)以及分别与所述第一探针(9)、所述电解电容(8)的正极端(10)和所述电解电容(8)的负极端(11)电连接的第一测试电路，所述第一测试电路测量所述第一探针(9)和所述电解电容(8)的正极之间的电阻值以及所述第一探针(9)和所述电解电容(8)的负极之间的电阻值。

3.根据权利要求2所述的ICT测试仪，其特征在于，所述电解电容插反测试机构(7)还包括信号处理模块，所述信号处理模块接收所述第一测试电路测得的电阻值与预设电阻值进行比较，判断所述电解电容(8)是否插反。

4.根据权利要求2所述的ICT测试仪，其特征在于，所述第一测试电路包括：电阻表，分别测量所述第一探针(9)和所述电解电容(8)的正极之间的电阻值以及所述第一探针(9)和所述电解电容(8)的负极之间的电阻值。

5.根据权利要求1所述的ICT测试仪，其特征在于，所述天板(1)上还设有用于固定所述电路板(2)的定位件(18)，所述定位件(18)朝向所述电路板(2)元件面的一端具有面积大于所述定位件(18)横截面积的压头(19)。

6.根据权利要求1所述的ICT测试仪，其特征在于，所述待测试的针座(13)具有一定高度差的上台阶(14)和下台阶(15)，所述针座插反测试机构(12)包括开关型压件和第二测试电路，所述开关型压件包括第一导电件(16)和第二导电件(17)，所述开关型压件具有抵压在所述下台阶(15)、所述第一导电件(16)和所述第二导电件(17)分离的断开状态，和抵压在所述上台阶(14)、所述第一导电件(16)和所述第二导电件(17)导通的导通状态；所述第二测试电路的第一端电连接所述第一导电件(16)，第二端电连接所述第二导电件(17)，测量所述开关型压件处于所述导通状态和所述断开状态时所述第一端和所述第二端之间的电阻值。

7.根据权利要求6所述的ICT测试仪，其特征在于，所述开关型压件还包括向所述第一导电件(16)和/或第二导电件(17)施加使其二者分离的偏压力的偏压件(20)，所述开关型压件抵压所述上台阶(14)通过克服所述偏压力使所述第一导电件(16)和所述第二导电件(17)导通。

8.根据权利要求6所述的ICT测试仪，其特征在于，所述开关型压件处于所述导通状态时所述第一端和所述第二端之间的电阻值趋近于0。

9.根据权利要求6所述的ICT测试仪，其特征在于，所述第二测试电路包括电阻表(21)，所述电阻表(21)上设有与所述第一端和所述第二端二者其一相连的正极导线(22)，以及与所述第一端和所述第二端二者另一相连的负极导线(23)。

10.根据权利要求1所述的ICT测试仪，其特征在于，所述电气元件引脚测试机构(3)包括与设置在所述元件面上所述电气元件(4)的引脚(5)相对应的第二探针(6)，所述第二探针(6)受所述天板(1)驱动与所述引脚(5)相连。