[实用新型]一种直热式阴极热发射及寿命特性测试装置

说明书

一种直热式阴极热发射及寿命特性测试装置，包括经固定钼杆与导电芯柱固定连接的高真空接口、吸气剂装置、直热式阴极、钼筒阳极、陶瓷盖，所述钼筒阳极上下两端均设有陶瓷盖，钼筒阳极侧面筒壁四周每隔90°位置设有一个温度测量孔，所述陶瓷盖上设有中心孔和若干个散热孔，所述直热式阴极穿过陶瓷盖上的中心孔置于钼筒阳极内。该装置可以较好的屏蔽在直热式阴极热发射测试过程中，陶瓷盖外侧热电子对测试结果的影响，并且也可以保护真空二极管测试系统不至于温度过高而损坏。

技术领域

本实用新型涉及一种直热式阴极热发射及寿命特性测试装置。

背景技术

相比于间热式阴极，例如氧化物阴极、钡钨阴极等，直热式阴极(例如，钨丝阴极)具有较好的耐高温性能、抗中毒性能，而且结构简单、寿命长以及能耗低等众多优点。因此，直热式阴极被广泛的应用于工作环境较为恶劣的医疗加速器、X射线衍射仪、大功率连续波磁控管等领域。目前，用于间热式阴极热发射及寿命特性测试的装置已经较为成熟，但是用于直热式阴极热发射及寿命特性测试的装置不仅少，而且测试结果的精度普遍也不太高。

实用新型内容

本实用新型其目的就在于提供一种直热式阴极热发射及寿命特性测试装置，解决了现有用于直热式阴极热发射及寿命特性测试的装置不仅少，而且测试结果的精度普遍不太高的问题。

为实现上述目的而采取的技术方案是，一种直热式阴极热发射及寿命特性测试装置，包括经固定钼杆与导电芯柱固定连接的高真空接口、吸气剂装置、直热式阴极、钼筒阳极、陶瓷盖，所述钼筒阳极上下两端均设有陶瓷盖，钼筒阳极侧面筒壁四周每隔90°位置设有一个温度测量孔，所述陶瓷盖上设有中心孔和若干个散热孔，所述直热式阴极穿过陶瓷盖上的中心孔置于钼筒阳极内。

有益效果

与现有技术相比本实用新型具有以下优点。

1.可以较好的屏蔽在直热式阴极热发射测试过程中，陶瓷盖外侧热电子对测试结果的影响；

2.可以保护真空二极管测试系统不至于温度过高而损坏；

3.通过对直热式阴极进行加热，在直热式阴极与钼筒阳极之间加电压，就可以完成对直热式阴极热发射以及寿命特性的测试。

附图说明

以下结合附图对本实用新型作进一步详述。

图1为本实用新型专利中直热式阴极热发射以及寿命特性的测试装置的结构示意图；

图2为图1中钼筒阳极的放大示意图；

图3为为图1中陶瓷盖的放大示意图。

具体实施方式

本装置包括经固定钼杆8与导电芯柱5固定连接的高真空接口7、吸气剂装置6、直热式阴极1、钼筒阳极2、陶瓷盖3，如图1-图3所示，所述钼筒阳极2上下两端均设有陶瓷盖3，钼筒阳极2侧面筒壁四周每隔90°位置设有一个温度测量孔4，所述陶瓷盖3上设有中心孔9和若干个散热孔10，所述直热式阴极1穿过陶瓷盖3上的中心孔9置于钼筒阳极2内。

本实用新型中，所述直热式阴极1位于钼筒阳极2正中间位置，钼筒阳极2两端用带散热孔10的陶瓷盖3封住，直热式阴极热发射及寿命特性测试装置中各个部件的位置由固定钼杆8完全确定；所述直热式阴极1在穿过陶瓷盖的中心孔9后，置于钼筒阳极2正中间位置。所述钼筒阳极2筒壁四周每隔90°位置都有一个温度测量孔4；钼筒阳极2两端用带散热孔10的陶瓷盖3封住。钼筒阳极主要用于接收从直热式阴极表面发射出来的热电子。所述陶瓷盖3表面有中心孔9和若干个散热孔10；所述温度测量孔4位于钼筒阳极2筒壁四周，每隔90°位置都有一个温度测量孔，用于测量直热式阴极中心位置的真实工作温度。之所以添加多个温度测量孔，主要是方便光学温度计在测温时能够快速对准。所述导电芯柱5用于连接电源，保证测试装置的正常供电。所述吸气剂装置6一般用于真空二极管的高真空接口7被密封之后，继续用来保证真空管内的高真空度。所述高真空接口7用于连接高真空系统（一般由机械泵、分子泵、离子泵三级真空泵系统组成），保证真空二极管工作于高真空环境下。所述固定钼杆8一方面用于直热式阴极1、钼筒阳极2、陶瓷盖3、吸气剂装置6等部件的固定，另一方面固定钼杆8被连接在导电芯柱5上，起到类似于“导线”的作用。