[实用新型]一种光电轴角编码器检测仪

权利要求书

1.一种光电轴角编码器检测仪,其特征在于，包括：

信号处理模块，与待测光电编码器连接，用于将光电编码器输出的信号处理为适合检测的信号，包括光电编码器信号处理单元、数据转换单元、数字信号处理单元；

接口模块，与所述信号处理模块连接，用于实现检测仪对不同型号的光电编码器进行检测；

信号调理模块，与所述接口模块连接，用于对光电编码器输出的不同的编码信号进行整形滤波处理，并送至控制与检测模块；

控制与检测模块，与所述信号调理模块和接口模块连接，用于对经所述信号调理模块处理后的编码信号和所述接口模块传输的信号进行判别、角速度测量。

2.根据权利要求1所述的光电轴角编码器检测仪，其特征在于，所述光电编码器信号处理单元包括数字信号提取电路、转换电路和放大电路；

所述光电编码器信号处理单元用于将光电编码器输出的光信号转化为电信号并对所述电信号进行处理后输出给所述数据转换单元；

所述数据转换单元用于接收经过所述光电编码器信号处理单元处理的电信号并转换成数字信号；

所述数字信号处理单元用于接收所述数字信号并转换为检测信号发送至所述接口模块。

3.根据权利要求1所述的光电轴角编码器检测仪，其特征在于，所述信号调理模块包括脉冲化单元和方向判别单元；

所述脉冲化单元与所述方向判别单元连接，用于将光电编码器输出的两路正弦波进行整形处理生成方形波信号；

所述方向判别单元用于对所述方形波信号进行处理，并将得到的计数方波信号和方向信号送入到所述控制与检测模块进行测量。

4.根据权利要求1所述的光电轴角编码器检测仪，其特征在于，所述控制与检测模块包括Arduino Due微控制器。

5.根据权利要求4所述的光电轴角编码器检测仪，其特征在于，所述Arduino Due微控制器采用型号为Atmel SAM3X8E CPU的微控制器板。

6.根据权利要求1所述的光电轴角编码器检测仪，其特征在于，还包括与所述接口模块连接的自检模块，所述自检模块包括一单片机，用于通过单片机产生自检信号，并送到所述控制与检测模块进行脉冲计数，实现检测仪工作性能的判断。

7.根据权利要求1所述的光电轴角编码器检测仪，其特征在于，还包括电源模块，用于对为检测仪供电的电源进行降压稳压处理，给待测光电编码器提供工作电压。

8.根据权利要求1所述的光电轴角编码器检测仪，其特征在于，还包括与所述控制与检测模块连接的显示模块；

所述显示模块包括LCD显示屏、LCD控制器、触摸屏、通讯接口和界面处理单元，所述通讯接口用于与外部控制单元连接，实现系统的人机交互界面；所述LCD显示屏用于实时显示所述控制与检测模块的脉冲个数。