[实用新型]一种芯片多工位测试系统有效
| 申请号： | 201820636942.2 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN208780782U | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | 张术利 | 申请（专利权）人： | 上海利扬创芯片测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 刘克宽 |
| 地址： | 201800 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 探针卡 被测芯片 多工位 芯片 多工位测试 信号处理器 主控装置 测试机 电连接 本实用新型 测试效率 程序产生 计算处理 频率信号 频段 工位 预设 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种芯片多工位测试系统，包括依次电连接的主控装置、测试机和多工位探针卡，所述多工位探针卡用于放置被测芯片，其特征是：还设有电连接多工位探针卡的信号处理器。
2.根据权利要求1所述的芯片多工位测试系统，其特征是：所述信号处理器通过射频线电连接多工位探针卡。
3.根据权利要求1所述的芯片多工位测试系统，其特征是：所述多工位探针卡设有至少两个用于放置被测芯片的工位。
4.根据权利要求1所述的芯片多工位测试系统，其特征是：所述多工位探针卡的每个工位上设有16个探针。
5.根据权利要求1所述的芯片多工位测试系统，其特征是：所述主控装置为计算机。
6.根据权利要求1所述的芯片多工位测试系统，其特征是：所述主控装置设有显示屏。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海利扬创芯片测试有限公司，未经上海利扬创芯片测试有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201820636942.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种LED驱动芯片测试系统
- 下一篇：一种LED检测装置及系统
