[实用新型]一种用于快速制备透射电镜薄片试样的设备

说明书

本实用新型公开了一种用于快速制备透射电镜薄片试样的设备，用于实验室中制备预减薄试样。包括从动齿轮与主轴过盈配合，微调器，动齿轮，推力轴承，垫圈，弹簧限定主轴纵向位移，上限位套筒和下限位套筒限制主轴横向位移。通过调整粗调机构使压头将试样压入载物台中的盲孔，电机通过齿轮传动为主轴提供动力，调整微调器使连接在主轴上的铣刀微量进给磨削试样。本实用新型可以代替手工磨样，操作方便，磨样速度快，且不易损坏试样。

技术领域

本实用新型用于在实验室中制备透射电镜薄片试样的设备。

背景技术

透射电镜样品制备在金属及相关材料研究工作中起着至关重要的作用，要想得到好的实验结果，必须要制备出好的薄片试样，传统的制备方法是先通过手工磨样，使试样厚度达到30-50μm薄仪处理，离子减薄处理时价格昂贵，越厚的试样减薄时间越长，减薄价格越贵。由于所用试样小且薄，手工磨样至30-50μm时极不方便，极易磨坏样品。

实用新型内容

为了解决手工磨样困难的问题，本实用新型提供一种简易磨样装置，该装置不仅磨样速度快，而且能控制磨削深度，且不易损坏试样。本实用新型为实现上述目的所采用的技术方案是：

为了将薄片试样固定在载物台上，载物台上开有盲孔，将试样放入盲孔中心，然后调节机架上的粗调旋钮使机壳纵向大幅移动使压头将试样压紧。压头与机壳是螺纹连接。粗调机构是由安装在机壳上的粗调夹内的齿轮和安装在机架上的齿条构成。压头和载物台上的盲孔同轴。

从动齿轮由推力轴承，垫圈，弹簧向上托起，使主轴向上顶在滚珠和微调器上，主轴下端安装夹具，夹具用来夹装铣刀。主轴与夹具采用螺纹连接。主轴上安装从动齿轮，主轴与从动齿轮过盈配合。从动齿轮被推力轴承，垫圈，弹簧向上托起，弹簧底端固定在机体上。微调器，主轴，夹具，压头，同轴。主动齿轮由电机驱动，主动齿轮与电机轴过盈配合。磨削时，缓慢调节微调器，使主轴缓慢进给从而磨削试样。

本实用新型的优点在于：用该装置磨样时，磨样速度快，节省时间，容易控制磨削量，能将试样磨至10-20μm，从而减少了离子减薄费用。

附图说明

图1是本实用新型的三维组装图

图2是粗调机构组装图

图3压头剖视图

图4上限位套筒剖视图

图5电路图

图1中1.微调器，2.主轴，3.电机，4.开关，5.调速旋钮，6.从动齿轮，7.主动齿轮，8.推力轴承，9.垫圈，10.弹簧，11.下限位套筒， 12.夹具，13.压头，14.铣刀，15.载物台，16.底座，17.上限位套筒， 18.粗调机构，19.机架，20.机壳

图2中18.1粗调旋钮，18.2粗调轴，18.3齿条，18.4粗调夹， 18.5粗调齿轮

具体实施方式

在图1中，机壳(20)通过粗调机构(18)安装在机架(19)上。微调机构中的齿条(18.3)固定在机架(19)上，粗调夹(18.4)固定在机壳(20)上，通过调节粗调旋钮(18.1)，可以使机壳(20) 纵向大幅移动。微调器(1)是螺旋测微仪的测量头，用来精确控制主轴(2)纵向微小位移。图4所示，微调器，滚珠，套筒构成上限位套筒(17)，其与下限位套筒(11)可以限制主轴(2)横向位移。下限位套筒固定在机壳(20)上。从动齿轮(6)与主轴(2)过盈配合。从动齿轮(6)由推力轴承(8)，垫圈(9)，弹簧(10)向上托起，使主轴(2)向上顶在滚珠和微调器(1)上。夹具(12)夹紧铣刀(14)通过螺纹连接在主轴(2)上。压头(13)通过螺纹连接在机壳(20)上。更换铣刀(14)时，先将压头(13)卸下，再松开夹具(12)即可。电机(3)固定在机壳(20)上，主动轮(7)与电机轴过盈配合。

使用前先用螺旋测微仪测量样片厚度，记录厚度值，计算加工量。调整微调器(1)使铣刀(14)与压头(12)底端齐平。然后将准备好的样片放入载物台(15)上的盲孔中，调节粗调旋钮(18.1)，使压头(13)压紧样片。打开开关(4)，调节调速旋钮(5)调整至适合转速。然后调节微调器(1)使主轴(2)微量进给，直至达到所需结果。