[实用新型]一种IC测试治具

说明书

本实用新型为一种IC测试治具，其结构包括：底座、PCB板、IC固定装置、探针组和真空吸嘴，所述底座顶部连接有支撑板，所述支撑板与操作侧设置的触摸显示屏可拆卸连接，所述触摸显示屏与两侧设置的侧筋板可拆卸连接，所述支撑板顶部连接有底板，所述底板顶部设置PCB板，所述PCB板顶部连接盖板，所述盖板与顶部设置的IC固定装置滑动连接，所述盖板顶部连接有第一气缸，所述第一气缸与底部设置的探针固定板连接，所述探针固定板底部设置探针组，所述盖板顶部连接有第二气缸，所述第二气缸与底部设置的吸嘴固定板连接，所述吸嘴固定板底部设置真空吸嘴。该一种IC测试治具，可以实现多个IC同时进行检测和卸料，自动化操作减少了人工成本且提高了检测效率。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件测试治具技术领域，具体为一种IC测试治具。

背景技术

随着电子信息化的快速发展，IC(集成电路元件)应用越来越多，应用范围也越来越广：如电脑及相关设备类有南北桥IC、显卡IC、网卡IC、打印机IC等；在通讯类又有手机IC、无线网卡IC、GPS模块等；在网络类还有ADSL模块、集线器IC、路由器IC等。为保证质量和减少返工，买来IC成品应用的厂家，在使用前都会先对这些IC进行测试判断其是否是良品，是良品才可安装连接在PCB上进行后续贴装。

现有技术中，具代表性的IC测试使用的测试治具主要由多根探针、测试板和一压板机构构成，所述探针下端为与PCB板连接的焊端，上端为具有伸缩弹性的探针头；测试板是在一批需与IC连接的PCB板中任选出的一块，在测试板上IC连接位中的各个焊盘(焊盘数量较多，有十几个甚至几百个)上一一对应焊接上各探针的焊端，构成一探针阵列。检测时，将待测IC放置于探针阵列上，使其植球或焊盘的引脚与各探针的探针头对应接触；压板机构轻轻作用于待测IC与测试板间使两者相对靠近，从而使待测IC的引脚与测试板上的探针阵列的探针头可靠接触电连接，此时通上电看测试板输出的反应，即可顺利检测出待测物是否是良品。现有的IC测试治具基本能完成测试任务，但是在实际使用中发现它仍有以下不足之处：测试效率较低，一次只能测试一个IC，并且多采用手工测试，人工强度较大。且一般的治具极少有可以测试IC与PCB板之间的配合问题的。因此，我们提出了一种IC测试治具。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种IC测试治具，解决了背景技术中所提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种IC测试治具，其结构包括：底座、PCB板、IC固定装置、探针组和真空吸嘴，所述底座顶部连接有支撑板，所述支撑板与操作侧设置的触摸显示屏可拆卸连接，所述触摸显示屏与两侧设置的侧筋板可拆卸连接，所述支撑板顶部连接有底板，所述底板顶部设置PCB板，所述PCB板顶部连接盖板，所述盖板与顶部设置的IC固定装置滑动连接，所述盖板顶部连接有第一气缸，所述第一气缸与底部设置的探针固定板连接，所述探针固定板底部设置探针组，所述盖板顶部连接有第二气缸，所述第二气缸与底部设置的吸嘴固定板连接，所述吸嘴固定板底部设置真空吸嘴。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述PCB板与左侧设置的散热板可拆卸连接，所述散热板表面开设条形散热孔，所述散热板左侧连接第一保护罩，所述第一保护罩材质为弹性材质，所述第一保护罩左侧连接第二保护罩，所述第二保护罩表面开设透气孔。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述IC固定装置底部设置连接杆，所述连接杆底部设置小滑轮，所述小滑轮设置微型刹车装置。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述盖板顶部设置滑轨，所述滑轨为三条，其中一条为总滑轨，从总滑轨分出两条滑轨，分别连接探针组与真空吸嘴。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述PCB板为长方形。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：