[实用新型]一种显示面板的测试系统

说明书

本实用新型提供一种显示面板的测试系统，包括阵列基板、测试信号产生电路、源极驱动电路、多个第一开关元件和多个第二开关元件。测试信号产生电路包括多个测试灰阶电压输出端、第一开关信号端和第二开关信号端。源极驱动电路包括多个电压选择寄存器，电压选择寄存器均包括电源端和正常灰阶电压输出端。多个第一开关元件的第一控制端均与第一开关信号端相连，多个第一开关元件设置在多个电压选择寄存器的正常灰阶电压输出端与阵列基板的多条灰阶电压输入线之间，或者多个第一开关元件设置在多个电压选择寄存器的电源端与电源电压端之间。本实用新型的显示面板的测试系统，可以解决V‑T曲线不易测量的问题，且测量数据准确，加快了产品的测试进度。

技术领域

本实用新型涉及显示检测领域，尤其涉及一种显示面板的测试系统。

背景技术

目前，液晶显示器逐渐成为消费电子产品的重要角色，其广泛应用于具有高分辨率彩色屏幕的移动终端等设备的显示器中。

在显示行业，在项目开发测试时，需要对液晶的V-T(电压-透过率)曲线等数据进行测试和使用，准确评估液晶特性且会造成材料损失和浪费，例如初版Gamma评估等，这将影响实验的准确性和项目开发进度。

现有技术中，在源极驱动电路采用外部电阻的设计架构时，可以通过外部节点外灌电压给源极驱动电路，并测试V-T曲线；在源极驱动电路未采用外部电阻的设计架构(例如小尺寸显示面板)，则外部无节点，使用的源极驱动电路(Source IC)都嵌入到时序控制芯片(TCON)，在绑定(Bonding)后，由于伽玛(Gamma)电压为内部代码控制，V-T曲线不易测量，只能使用点灯治具(Shorting Bar)测量V-T曲线，但是在绑定后，测试非常麻烦，例如需要取下源极驱动电路，且由于点灯方式上存在差异，会与源极驱动电路采用外部电阻的设计架构时得到的数据有偏差。

如图1所示的现有的测试系统的电路结构示意图，在源极驱动电路没有绑定时，能使用点灯治具测量V-T曲线，ADD信号为高电平时打开TFT开关元件，给R、G、B测试点外灌电压为像素(Pixel)充电，从而可以测量V-T曲线；然而，在源极驱动电路(Source IC)绑定后，此时,ADD信号需要给低电平，此时TFT关闭，断开R、G、B测点与像素(Pixel)间的连接，由源极驱动电路(Source IC)为像素(Pixel)充电，此时无法使用点灯治具直接外灌电压给像素(Pixel)充电,则V-T曲线无法测量。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型目的在于提供一种显示面板的测试系统，解决V-T曲线不易测量的问题。

具体地，本实用新型提供一种显示面板的测试系统，包括阵列基板、测试信号产生电路、源极驱动电路、多个第一开关元件和多个第二开关元件。阵列基板包括阵列排布的多个像素单元，多个像素单元分别与多条灰阶电压输入线对应相连。测试信号产生电路包括多个测试灰阶电压输出端、第一开关信号端和第二开关信号端。源极驱动电路包括多个电压选择寄存器，多个电压选择寄存器均包括电源端和正常灰阶电压输出端，多个电压选择寄存器的正常灰阶电压输出端与多条灰阶电压输入线一一对应相连。多个第一开关元件均包括第一通路端、第一控制端和第二通路端，多个第一开关元件的第一控制端均与第一开关信号端相连，多个第一开关元件设置在多个电压选择寄存器的正常灰阶电压输出端与阵列基板的多条灰阶电压输入线之间，即多个第一开关元件的第一通路端分别与电压选择寄存器的多个正常灰阶电压输出端一一对应相连并输出正常灰阶电压，多个第一开关元件的第二通路端分别与多条灰阶电压输入线一一对应相连，或者多个第一开关元件设置在多个电压选择寄存器的电源端与电源电压端之间，即多个第一开关元件的第一通路端均与电源电压端相连，多个第一开关元件的第二通路端分别与多个电压选择寄存器的电源端一一对应相连。多个第二开关元件均包括第三通路端、第二控制端和第四通路端，多个第二开关元件的第三通路端分别与测试信号产生电路的多个测试灰阶电压输出端一一对应相连并输出测试灰阶电压，多个第二开关元件的第二控制端均与第二开关信号端相连，多个第二开关元件的第四通路端分别与多个第一开关元件的第二通路端一一对应相连。