[实用新型]一种集成电路封装后去除溢料装置有效
| 申请号: | 201820560962.6 | 申请日: | 2018-04-18 |
| 公开(公告)号: | CN208284460U | 公开(公告)日: | 2018-12-25 |
| 发明(设计)人: | 陈贤超 | 申请(专利权)人: | 庄艺婷 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 362100 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 主体框架 溢料 去除 集成电路封装 减振支柱 嵌入安装 移动杆 本实用新型 固定连接片 物料入口 铰链 提手 推块 箱门 油液 焊接 挤压 一体化结构 防止振动 封装结构 固定转轴 缓冲弹簧 传动箱 固定杆 震动力 缓冲 回弹 视窗 转轴 传导 电机 杠杆 移动 | ||
本实用新型公开了一种集成电路封装后去除溢料装置,其结构包括固定杆、固定连接片、减振支柱装置、铰链、提手、箱门、物料入口、视窗、电机、传动箱、主体框架,固定连接片与减振支柱装置相焊接,减振支柱装置嵌入安装于主体框架上,铰链与主体框架相焊接,提手嵌入安装于箱门上,箱门嵌入安装于主体框架上,物料入口与主体框架为一体化结构,本实用新型一种集成电路封装后去除溢料装置,主体框架将震动力通过推块传导到油液上,使其往下方的移动杆挤压,在移动杆往下移动时转轴与固定转轴形成杠杆,挤压缓冲弹簧,而在回弹过程中移动杆与推块之间通过油液能够起到缓冲,防止振动剧烈,防止去除溢料时对封装结构造成损坏。
技术领域
本实用新型是一种集成电路封装后去除溢料装置,属于去除溢料技术领域。
背景技术
在集成电路封装作业中,由于塑封模具的合模无法使上下模保证零间隙,导致封装后集成电路块的边缘有环氧树脂的溢料存在,封装的产品不同,溢料大小不同。
现有技术公开了申请号为:201520725454.5的一种集成电路封装后去除溢料装置,它包括操作台面、安装在操作台面上的两条轨道,两条轨道上设有皮带轮,皮带轮上设有输送皮带,皮带轮与电机相连接,其中一条轨道的顶端外侧设有集成电路料条上料机构,该条轨道的底部外侧设有集成电路料条下料机构,另一条轨道的外侧设有两个溢料清除机构,两个溢料清除机构的中间设有集成电路料条翻转机构。本实用新型采用溢料清除机构、翻转机构将集成电路正反面的溢料均得到有效地清理,提高了集成电路产品的质量,但是该现有技术在对集成电路封装进行溢料去除时,容易发出振动,容易导致对封装部分造成损坏。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型目的是提供一种集成电路封装后去除溢料装置,以解决在对集成电路封装进行溢料去除时,容易发出振动,容易导致对封装部分造成损坏的问题。
为了实现上述目的,本实用新型是通过如下的技术方案来实现:一种集成电路封装后去除溢料装置,其结构包括固定杆、固定连接片、减振支柱装置、铰链、提手、箱门、物料入口、视窗、电机、传动箱、主体框架,所述固定连接片与减振支柱装置相焊接,所述减振支柱装置嵌入安装于主体框架上,所述铰链与主体框架相焊接,所述提手嵌入安装于箱门上,所述箱门嵌入安装于主体框架上,所述物料入口与主体框架为一体化结构,所述视窗与主体框架为一体化结构,所述传动箱安装于主体框架左侧,所述主体框架下方设有固定杆、固定连接片,所述减振支柱装置包括有支撑柱、转轴、移动杆、油液、第一复位弹簧、推块、缓冲弹簧、固定转轴、第二复位弹簧,所述支撑柱内设有推块、移动杆,所述转轴设有两个分别安装于移动杆两侧,所述第一复位弹簧与支撑柱相焊接,所述推块下方设有油液、移动杆,所述缓冲弹簧与支撑柱相焊接,所述固定转轴设有两个分别安装于转轴两侧,所述第二复位弹簧安装于移动杆下方。
进一步地,所述固定杆与减振支柱装置相焊接。
进一步地,所述电机嵌入安装于传动箱上。
进一步地,所述支撑柱与固定杆相焊接。
进一步地,所述固定杆是长为150cm、宽为3cm、高为5cm的长方体。
进一步地,所述固定杆由耐磨钢制成,具有硬度较高、耐磨性优良的特点。
进一步地,所述支撑柱由普碳钢制成,成本低且使用寿命长。
本实用新型一种集成电路封装后去除溢料装置,主体框架将震动力通过推块传导到油液上,使其往下方的移动杆挤压,在移动杆往下移动时转轴与固定转轴形成杠杆,挤压缓冲弹簧,而在回弹过程中移动杆与推块之间通过油液能够起到缓冲,防止振动剧烈,防止去除溢料时对封装结构造成损坏。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





