[实用新型]一种集成电路电阻检测装置有效

专利信息
申请号: 201820524832.7 申请日: 2018-04-13
公开(公告)号: CN208000361U 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 丁香 申请(专利权)人: 王兴
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳茂达智联知识产权代理事务所(普通合伙) 44394 代理人: 胡慧
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 位置检测 图像采集器 功能检测 推送器 基台 集成电路电阻 传送带 检测装置 内部设置 安装座 稳定座 次品 检测 伺服驱动电机 本实用新型 激光定位器 照明灯 回收器 机械臂 回收
【说明书】:

本实用新型公开了一种集成电路电阻检测装置,包括稳定座、基台、位置检测箱、功能检测箱,所述稳定座上方设置有所述基台,所述基台内部设置有伺服驱动电机,所述基台上方设置有传送带,所述传送带上设置有所述位置检测箱,所述位置检测箱内部设置有图像采集器,所述图像采集器一侧设置有照明灯,所述图像采集器另一侧设置有激光定位器,所述位置检测箱一侧设置有推送器,所述推送器下方设置有次品回收器,所述推送器一侧设置有所述功能检测箱,所述功能检测箱底部设置述安装座,所述安装座上方设置有检测机械臂;有益效果在于:检测精度高,检测效率快,显著降低工人工作强度,同时采取有次品回收设计,降低成本,实用性强。

技术领域

本实用新型涉及集成电路检测设备技术领域,特别是涉及一种集成电路电阻检测装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术,主要体现在加工设备,加工工艺,封装测试,批量生产及设计创新的能力上。

集成电路在生产时需要经过检测才能够出厂,传统的集成电路检测方式多采用人工去对比并操作,此种检测方式加工效率较慢的同时,检查精度也角度,容易发生误判,增加成本,因此需要发明一种新型设备来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种集成电路电阻检测装置。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的:

一种集成电路电阻检测装置,包括稳定座、基台、位置检测箱、功能检测箱,所述稳定座上方设置有所述基台,所述基台内部设置有伺服驱动电机,所述基台上方设置有传送带,所述传送带上设置有所述位置检测箱,所述位置检测箱内部设置有图像采集器,所述图像采集器一侧设置有照明灯,所述图像采集器另一侧设置有激光定位器,所述位置检测箱一侧设置有推送器,所述推送器下方设置有次品回收器,所述推送器一侧设置有所述功能检测箱,所述功能检测箱底部设置述安装座,所述安装座上方设置有检测机械臂,所述检测机械臂上方设置有检测探头,所述检测机械臂两侧均设置有固定器,所述功能检测箱一侧设置有控制台,所述控制台一侧设置有成品放置箱。

上述结构中,在进行集成电路检测操作时可先将集成电路放置在所述传送带上,经过所述位置检测箱处停止传送,所述激光定位器负责定位,所述照明灯会对集成电路表面进行照明,同时所述图像采集器会进行集成电路表面图像的采集,之后将信息传输至所述控制台内进行数据比对,如果发现与预设的集成电路电阻位置相差过多时则所述推送器会将集成电路及时推送至所述次品回收器内,满足要求的则进入所述功能检测箱内,所述固定器会将集成电路进行固定,之后所述检测探头会对集成电路上的电阻进行功能检测,不满足测试要求的会投放至所述次品回收器内,完成检测的集成电路则会进入所述成品放置箱内,即完成整个检测过程,操作者可以通过所述控制台来控制设备。

为了进一步提高集成电路电阻检测装置的检测效果,所述稳定座与所述基台通过螺钉紧固连接在一起,所述伺服驱动电机与所述基台通过螺钉紧固连接在一起,所述伺服驱动电机与所述控制台电连接。

为了进一步提高集成电路电阻检测装置的检测效果,所述传送带与所述基台通过螺钉紧固连接在一起,所述伺服驱动电机与所述传送带传动连接。

为了进一步提高集成电路电阻检测装置的检测效果,所述位置检测箱与所述基台通过螺钉紧固连接在一起,所述图像采集器与所述位置检测箱通过螺钉紧固连接在一起,所述图像采集器与所述控制台电连接。

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