[实用新型]用于芯片点胶的检测装置

说明书

本实用新型公开一种用于芯片点胶的检测装置，包括底板，所述底板的上表面设有两个支撑板，两个支撑板之间连接有连接板，所述连接板的底面设有扫描相机和多个光源机构，第二电动伸缩杆的一端与支撑块的侧面连接，两个固定杆的顶端均安装有两个对称的凸块，两个固定杆之间的两个位置对应的凸块之间活动连接有活动板，两个活动板之间相对的侧面上均安装有反光镜，两个第一电动伸缩杆分别安装在两个支撑板的侧面，两个第一电动伸缩杆的顶端均设有安装板，所述安装槽的内部设有固定轴，使得连接块沿着固定轴的表面滑动，所述连接块远离固定轴的一端与活动板连接。本实用新型结构简单、使用方便，可根据芯片的厚度检测出芯片是否存在漏点或溢胶等问题。

技术领域

本实用新型涉及用于芯片点胶的检测装置技术领域，尤其涉及一种用于芯片点胶的检测装置。

背景技术

现代工业中对制造芯片精度要求越来越高，芯片在制造过程中，一般经过光学显影时检查芯片是否存在漏点或溢胶的问题，这些缺陷在合成为多层板后，会因无法修复而导致成品报废，同时由于这些缺陷非常微小，人眼观察困难，通过人工检测的方式对人眼伤害很大，现有的一些检测设备在光学结构与运动结构的设计和配合上存在一些问题，例如由于受检测物件其线路的密集程度不一样，无法自动调整解析度，光源无法适应不同板厚等，导致图像采集的误差偏大或是调整不方便，造成高精度的芯片检测会出现很大的误报和漏测情况。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于芯片点胶的检测装置，该用于芯片点胶的检测装置结构简单、使用方便，可根据芯片的厚度检测出芯片是否存在漏点或溢胶等问题。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于芯片点胶的检测装置，包括底板，所述底板的上表面设有两个支撑板，两个支撑板之间连接有连接板，所述连接板的底面设有扫描相机和多个光源机构，所述底板的上表面分别设有支撑块和第二电动伸缩杆，所述支撑块和第二电动伸缩杆位于两个支撑板之间，第二电动伸缩杆的一端与支撑块的侧面连接；

所述两个支撑板的顶端之间连接有调节机构，此调节机构进一步包括两个固定杆和两个第一电动伸缩杆，两个固定杆的底端分别安装在两个第一电动伸缩杆的顶端，两个固定杆的顶端均安装有两个对称的凸块，两个固定杆之间的两个位置对应的凸块之间活动连接有活动板，两个活动板之间相对的侧面上均安装有反光镜，两个第一电动伸缩杆分别安装在两个支撑板的侧面，两个第一电动伸缩杆的顶端均设有安装板，两个安装板和两个活动板之间活动连接有连接杆；

四个所述凸块远离支撑板的侧面开设有安装槽，所述安装槽的内部设有固定轴，所述固定轴上套接有连接块，使得连接块沿着固定轴的表面滑动，所述连接块远离固定轴的一端与活动板连接。

上述技术方案中进一步改进的方案如下：

1. 上述方案中，所述第一电动伸缩杆和第二电动伸缩杆均为电动推杆。

2. 上述方案中，所述扫描相机通过导线与外界电脑连接。

3. 上述方案中，所述支撑块沿着底板的上表面滑动设置。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：