[实用新型]一种用于芯片检测的吸附台

权利要求书

1.一种用于芯片检测的吸附台，其特征在于：包括用以放置芯片的台座，台座的台面上开设有用以吸附住芯片的吸气孔，台座的侧部开设有用以插装加热棒的加热棒插孔以及用以插装热电偶的热电偶插孔，台座侧部还设置有用以挡住芯片防止其掉落的挡板。

2.根据权利要求1所述的用于芯片检测的吸附台，其特征在于：所述吸气孔具有多个并沿一字排开，所述台座内部设置有与所有吸气孔相连通的分气长槽，所述台座侧部开设有与分气长槽相连通的抽气孔。

3.根据权利要求2所述的用于芯片检测的吸附台，其特征在于：所述台座侧部设置有与台座紧密配合并可相对台座上下移动的压板，所述挡板设置于所述压板上，所述挡板伸出台座台面的高度低于芯片高度。

4.根据权利要求3所述的用于芯片检测的吸附台，其特征在于：所述吸气孔和分气长槽位于台座和压板的配合面处；所述台座与压板相配合一侧设置有供压板移动导向的导向槽，所述压板上设置有与导向槽配合的凸块，导向槽上端穿设有螺栓，所述凸块上侧开设有与螺栓配合的螺纹孔。

5.根据权利要求3所述的用于芯片检测的吸附台，其特征在于：所述压板通过螺钉固定于台座上，所述台座朝向压板一侧开设有与螺钉配合的螺丝孔，所述压板上开设有供螺钉穿过的长孔。