[实用新型]硅晶电池碎片检测装置有效
| 申请号: | 201820474777.5 | 申请日: | 2018-04-04 |
| 公开(公告)号: | CN208337511U | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
| 发明(设计)人: | 戴云霄;徐琼;吴群策;沈家麒 | 申请(专利权)人: | 杭州利珀科技有限公司 |
| 主分类号: | H02S50/15 | 分类号: | H02S50/15 |
| 代理公司: | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人: | 胡小龙 |
| 地址: | 311305 浙江省杭州市临安市青山*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电池碎片 硅晶 光源安装座 立柱 检测装置 本实用新型 相机成像 底座 照射 相机 上下两侧 准确检测 检测 光源 拍照 | ||
1.一种硅晶电池碎片检测装置,其特征在于:包括底座(1),所述底座(1)上安装设有立柱(4),所述立柱(4)的下部安装设有光源安装座(2a),所述光源安装座(2a)上设有用于照射被测硅晶电池碎片的光源(2);所述立柱(4)的上方设有用于对所述被检测硅晶电池碎片拍照的相机(5)。
2.根据权利要求1所述的硅晶电池碎片检测装置,其特征在于:所述光源(2)采用面板灯。
3.根据权利要求1所述的硅晶电池碎片检测装置,其特征在于:所述立柱(4)上设有用于调节所述相机(5)位置的相机安装调节机构。
4.根据权利要求3所述的硅晶电池碎片检测装置,其特征在于:所述相机安装调节机构包括设置在所述立柱(4)上的竖直滑轨(4a)和与所述竖直滑轨(4a)滑动配合的相机安装座(6),所述相机安装座(6)上设有与所述竖直滑轨(4a)垂直的水平调节杆(6a),所述相机(5)上固定安装设有相机调整块(7),所述相机调整块(7)旋转配合安装在所述水平调节杆(6a)上。
5.根据权利要求1所述的硅晶电池碎片检测装置,其特征在于:所述光源安装座(2a)的上方设有用于输送所述被测硅晶电池碎片的输送台(9)。
6.根据权利要求1-5任一项所述的硅晶电池碎片检测装置,其特征在于:还包括用于检测所述被测硅晶电池碎片是否到位的检测机构。
7.根据权利要求6所述的硅晶电池碎片检测装置,其特征在于:所述检测机构包括设置在所述被测硅晶电池碎片上方的传感器安装座Ⅰ(3)和设置在所述被测硅晶电池碎片下方的传感器安装座Ⅱ(8),所述传感器安装座Ⅰ(3)上安装设有信号发射器,所述传感器安装座Ⅱ上安装设有信号接收器;或所述传感器安装座Ⅰ(3)上安装设有信号接收器(10),所述传感器安装座Ⅱ(8)上安装设有信号发射器。
8.根据权利要求7所述的硅晶电池碎片检测装置,其特征在于:所述立柱(4)的侧壁上设有第二滑轨(4b),所述传感器安装座Ⅰ(3)滑动配合安装在所述第二滑轨(4b)上,且所述传感器安装座Ⅰ(3)上设有位于所述光源安装座(2a)上方并用于安装所述信号发射器或信号接收器的水平安装调节杆(3a)。
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