[实用新型]全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置有效

专利信息
申请号: 201820473860.0 申请日: 2018-04-04
公开(公告)号: CN208067952U 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 廖德锋;赵世杰;谢瑞清;孙荣康;任乐乐;王健;许乔 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: B24B13/00 分类号: B24B13/00;B24B49/12
代理公司: 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 代理人: 蒲敏
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 抛光盘 形状误差 辅助检测支架 本实用新型 环形抛光 检测装置 直线导轨 全口径 激光位移传感器 检测 辅助检测 元件孔 溜板 水槽 抛光盘表面 直线度误差 参考对象 宏观轮廓 平面贴合 引入系统 种检测 平滑 下板 水面
【权利要求书】:

1.全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:在直线导轨(9)上设置有溜板(10),在所述溜板(10)上设置有L形辅助检测支架(11)、第一激光位移传感器(12)和第二激光位移传感器(13),在所述直线导轨(9)的下方设置有水槽(20),在所述L形辅助检测支架(11)的下板上设置有元件孔,在所述元件孔内设置有辅助检测平板(14)。

2.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述L形辅助检测支架(11)限定辅助检测平板(14)在竖直方向上自由浮动。

3.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述第一激光位移传感器(12)的检测点指向水槽(20)内的水面,所述第二激光位移传感器(13)的检测点指向辅助检测平板(14)的上表面。

4.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述水槽(20)设置在抛光盘(2)上。

5.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述辅助检测平板(14)的下表面与抛光盘(2)上表面贴合,所述辅助检测平板(14)的尺寸大于抛光盘(2)上表面沟槽的最大尺寸。

6.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述第一激光位移传感器(12)和第二激光位移传感器(13)通过磁力表座固定在溜板(10)上。

7.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述第一激光位移传感器(12)和第二激光位移传感器(13)检测的距离数据通过两根数据线输送至PC端进行记录和处理。

8.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述水槽(20)的形状为长方形,其长度方向与直线导轨(9)对齐,所述水槽(20)的长度不小于直线导轨(9)的移动行程。

9.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述溜板(10)通过伺服电机和丝杠进行精确定位和移动速度控制。

10.如权利要求1所述的全口径环形抛光中抛光盘形状误差的检测装置,其特征在于:所述辅助检测平板(14)的上表面和下表面的平面度以及等厚精度优于1um。

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