[实用新型]一种半导体开关管测试装置有效

专利信息
申请号: 201820464187.4 申请日: 2018-03-30
公开(公告)号: CN208239570U 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 曾祥幼;张杰;胡舜涛 申请(专利权)人: 上海陆芯电子科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京金信知识产权代理有限公司 11225 代理人: 张晓丹;吴崇
地址: 200120 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 半导体开关管 测试装置 本实用新型 测试板 出风口 容纳腔 测试电路 检测模块 驱动模块 测试箱 进风口 测试元件 导流风扇 控制模块 散热结构 使用寿命 双脉冲 散热 侧壁 测试
【说明书】:

实用新型公开了一种半导体开关管测试装置。本实用新型的半导体开关管测试装置,包括:测试箱,测试箱具有容纳腔,容纳腔的侧壁上设有进风口和出风口,出风口上设有导流风扇;测试板,测试板设置于容纳腔内,测试板包括用于对待测试元件进行双脉冲测试的测试电路,测试电路包括:检测模块、驱动模块和控制模块;其中,驱动模块和检测模块依次由进风口向出风口方向布置。本实用新型的半导体开关管测试装置,由于具有散热结构,能够对其内部的元件进行散热,提高使用寿命和可靠性。

技术领域

本实用新型涉及电子设备检测技术领域,尤其涉及一种半导体开关管测试装置。

背景技术

随着我国新能源技术的飞速发展,交直流能量转换成为了光伏和新能源车的最关键的技术环节,并受到了新能源行业、国家的高度重视。

IGBT功率器件是交直流能量转换的核心器件,其使用参数直接决定了能量转换的稳定性和效率,一般利用半导体开关管测试装置对IGBT功率器件进行双脉冲测试,以获得IGBT功率器件的使用参数。

但是,现有技术中的半导体开关管测试装置不具有散热结构,当长时间工作时,由于半导体开关管测试装置内部的元件的温度过高,会导致半导体开关管测试装置损坏,影响试验的进行。

因此,针对现有的半导体开关管测试装置不具有散热结构,导致其容易损坏的问题,需要提供一种具有散热结构且可靠性较高的半导体开关管测试装置。

实用新型内容

为解决上述问题,本实用新型提供一种半导体开关管测试装置,由于具有散热结构,能够对其内部的元件进行散热,提高使用寿命和可靠性。

为实现上述目的,本实用新型提供了一种半导体开关管测试装置,包括:

测试箱,测试箱具有容纳腔,容纳腔的侧壁上设有进风口和出风口,出风口上设有导流风扇;

测试板,测试板设置于容纳腔内,测试板包括用于对待测试元件进行双脉冲测试的测试电路,测试电路包括:

检测模块,检测模块包括元件测试电路和脉冲测试电路,元件测试电路和脉冲测试电路分别与待测试元件连接,元件测试电路用于对待测试元件进行失效测试,脉冲测试电路用于对待测试元件进行双脉冲测试;

驱动模块,驱动模块与待测试元件连接,为待测试元件提供脉冲测试信号;和

控制模块,控制模块的信号输出端分别与元件测试电路、脉冲测试电路和驱动模块通信连接;控制模块的信号输入端与待测试元件连接,以获取待测试元件的测试结果;

其中,驱动模块和检测模块依次由进风口向出风口方向布置。

进一步地,测试板还包括:

用于与待测试元件连接的测试接口,检测模块、驱动模块和控制模块分别通过测试接口与待测试元件连接。

进一步地,测试箱的顶板开设有测试窗口,测试板可拆卸地设置于容纳腔内,并且使测试接口通过测试窗口伸出所述容纳腔。

进一步地,测试窗口设有用于保护容纳腔的封板。

进一步地,还包括:

低压电源,低压电源设置于容纳腔内,低压电源分别为元件测试电路、驱动模块和控制模块供电。

进一步地,测试箱的第一侧板上设有高压电源插口,高压电源插口用于与高压电源连接,并为脉冲测试电路供电。

进一步地,测试板还包括第一安装板、第二安装板和连接板,连接板竖直设置,第一安装板水平设置于连接板顶端,第二安装板水平设置于安装板底端,检测模块集成于第一安装板上,驱动模块和控制模块集成于第二安装板上。

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