[实用新型]有害辐射的快速测试装置

说明书

一种有害辐射的快速测试装置，包括探头、探头支架、透镜支架、光源支架和基座，探头支架、透镜支架和光源支架分别设置在基座上，探头、透镜和被测光源分别设置在探头支架、透镜支架和光源支架的顶端上，在透镜和被测光源之间设有光栅，在透镜支架的透镜固定台上设置有转动空间，在透镜固定台上设置有分别与转动空间连通的竖直安装孔和水平转动孔，偏心轮设置在转动空间中并在转动空间中转动，转动轴的一端设置在水平转动孔中并与偏心轮连接，转动轴的另一端位于透镜固定台的侧壁上，顶杆的上端与透镜连接，顶杆的下部插入到竖直安装孔中，顶杆的下端抵靠在偏心轮的侧壁上。本实用新型具有结构简单、方便调节透镜的高度和方便更换透镜等优点。

技术领域

本实用新型涉及辐射测试装置的技术领域，尤其是涉及一种有害辐射的快速测试装置。

背景技术

传统的测试激光器和发光二极管辐射的方法，有一种方式是用手分别拿着被测光源和探头，这种方式存在一定的缺陷，在测试过程中手可能颤动，如果测试量大，且时间过长，人手就容易疲劳，不得不换人测试，其测试效果低；另外，手拿被测光源和探头，很难保证两者中心在同一直线上，如果两者中心不在同一直线上，测试就不能进行，这种测试方式受人为因素影响太多，测试结果不准确，费时费力。

为了解决上述问题，人们发明了一种激光器和发光二极管辐射测试系统，包括探头、探头支架、透镜支架、光源支架和基座，探头支架、透镜支架和光源支架分别设置在基座上，探头、透镜和被测光源分别设置在探头支架、透镜支架和光源支架的顶端上，在透镜和被测光源之间设有光栅，透镜支架包括透镜的微调机构，微调机构包括第一丝杆、连接座、微调机构旋钮、一对侧旋钮和一对竖杆，连接座设有两个通孔，竖杆分别穿过两个通孔连接在透镜座上，旋钮设置在连接座相对两侧面上，微调机构旋钮设置在丝杆的顶端，丝杆的下端与透镜连接，拧动微调机构旋钮，第一丝杆上下移动，微调透镜位置。由此可以知道，现有技术中的透镜支架结构复杂，不方便调节透镜的高度，而且也不方便更换透镜。

实用新型内容

为了克服上述问题，本实用新型提供一种结构简单、方便调节透镜的高度和方便更换透镜的有害辐射的快速测试装置。

本实用新型的技术方案是：提供一种有害辐射的快速测试装置，包括探头、探头支架、透镜支架、光源支架和基座，所述探头支架、所述透镜支架和所述光源支架分别设置在所述基座上，所述探头、透镜和被测光源分别设置在所述探头支架、所述透镜支架和所述光源支架的顶端上，在所述透镜和所述被测光源之间设有光栅，在所述透镜支架的透镜固定台上设置有转动空间，在所述透镜固定台上设置有分别与所述转动空间连通的竖直安装孔和水平转动孔，一偏心轮设置在所述转动空间中并在所述转动空间中转动，一转动轴的一端设置在所述水平转动孔中并与所述偏心轮连接，所述转动轴的另一端位于所述透镜固定台的侧壁上，一顶杆的上端与所述透镜连接，所述顶杆的下部插入到所述竖直安装孔中，所述顶杆的下端抵靠在所述偏心轮的侧壁上；在所述透镜固定台上设置有存储各种透镜的存储腔室。

作为对本实用新型的改进，所述基座包括主导轨和支导轨，所述光源支架通过第一主滑块设置在所述主导轨上，所述支导轨通过第二主滑块设置在所述主导轨上，所述探头支架通过第一副滑块设置在所述支导轨上，所述透镜支架通过第二副滑块设置在所述支导轨上。

作为对本实用新型的改进，所述探头支架包括XY轴手动平移机构和探头升降机构，所述XY轴手动平移机构包括X轴手动平移机构和Y轴手动平移机构，所述X轴手动平移机构包括第一底板及设置在所述第一底板上的第一直线导轨副，所述第一直线导轨副上设置有用所述第一直线导轨副驱动的第一移动平台，所述Y轴手动平移机构设置于所述第一移动平台上；所述Y轴手动平移机构包括第二底板及设置在所述第二底板上的第二直线导轨副，所述第二直线导轨副上设置有用所述第二直线导轨副驱动的第二移动平台，所述探头升降机构设置在所述第二移动平台上；所述X轴手动平移机构及所述Y轴手动平移机构均设置有螺旋微调器，所述X轴手动平移机构及所述Y轴手动平移机构均设置有手动锁紧旋钮。