[实用新型]电子元件测试设备及其移动校准机构

说明书

本实用新型公开一种移动校准机构，该移动校准机构，包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置、用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置和用于安装吸取装置的安装板，校准装置位于吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动校准块前后移动的驱动源。本实用新型还公开一种电子元件测试设备，该电子元件测试设备包括前述的移动校准装置。本实用新型简化了电子元件的校准工序，节约了校准时间，提高了工作效率。

技术领域

本实用新型涉及电子元件测试设备领域，特别涉及一种移动校准机构及其电子元件测试设备。

背景技术

随着工业水平的进步和人们生活水平的提高，集成电路的应用越来越广泛，同时为了满足对集成电路的生产，电子元件测试设备的应用也越来广泛。

现有的电子元件测试设备通过吸取装置把电子元件从原料盘放置到治具上的。由于原料盘的容置腔与电子元件之间具有较大的间隙，而治具又对电子元件的摆放方向要求较高，因此在吸取装置吸取电子元件的过程中，需要对电子元件的方向进行校准。现有技术中，通过在原料盘与治具之间设置校准装置，吸取装置从原料盘吸取电子元件后，将其放置到校准装置中进行校准，再吸取校准后的电子元件运动至治具上方，然后释放电子元件，将其放置到治具中。这种方式需要吸取装置执行多次上升、下降动作，耗时较多，工作效率不高。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种移动校准机构，旨在解决现有技术中，吸取装置执行多次上升、下降动作，耗时较多，工作效率不高的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出一种移动校准机构，该移动校准机构包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置、用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置和用于安装所述吸取装置的安装板，所述校准装置位于所述吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动所述校准块前后移动的驱动源。

优选地，所述校准腔设置为喇叭型且贯通所述校准块。

优选地，所述吸取装置包括吸嘴、驱动所述吸嘴上下移动的第一驱动件以及驱动所述吸嘴和第一驱动件左右移动的第二驱动件。

优选地，所述吸嘴为多个且并排设置，所述校准腔与所述吸嘴对应设置。

优选地，所述安装板竖向设置，其一面设置有用于对所述吸取装置进行导向的竖向导槽，另一面设置有与外部导轨相连的第一横向导槽。

优选地，所述安装板上设置有用于对所述校准装置前后移动进行限位的限位件。

本实用新型进一步提出一种电子元件测试设备，该电子元件测试设备包括用于放置电子元件的原料盘、设置在所述原料盘一侧的治具和移动校准装置，该移动校准机构包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置和用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置，所述校准装置位于所述吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动所述校准块前后移动的驱动源。

优选地，所述安装板竖向设置，其一面设置有用于对所述吸取装置进行导向的竖向导槽，另一面设置有与外部导轨相连的第一横向导槽，所述电子元件测试设备还包括设置在所述原料盘上方、与所述吸取装置连接的横向导轨。

本实用新型提供的移动校准机构，通过设置驱动源和校准块，利用吸取装置吸取电子元件的过程，驱动源同时驱动校准块移动到相应位置，吸取装置下行即可完成对电子元件的外形进行校准并将电子元件放置到治具上。相对现有技术而言，本实用新型简化了电子元件的校准工序，节约了校准时间，提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型一实施例中移动校准机构的整体结构示意图；

图2为本实用新型图1中A部的局部放大图。

附图标号说明：