[实用新型]一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板

说明书

本实用新型涉及到一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板。其包括金刚石晶体镀膜、硒化锌晶体板和高分子材料固定座；所述金刚石晶体镀膜为金刚石晶体镀在硒化锌晶体板上表面形成的膜；所述硒化锌晶体板呈梯形，固定在高分子材料固定座上。与现有技术相比，本实用新型将金刚石晶体镀于硒化锌晶体表面作为红外光谱用反射元件，可避免硒化锌晶体表面涂覆高温、腐蚀性样品时造成的划痕、对实验结果造成影响这一缺陷，使反射元件的使用寿命大大提高，价格大大降低；红外辐射束投射到此复合梯形反射元件上，经过20～50次全内反射，在样品中的总穿透深度大大增加，可以获得令人满意的谱图，更有利于类似于沥青等特殊样品的红外光谱技术研究。

技术领域

本实用新型属分析仪器技术领域，具体来说，涉及到一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板。

背景技术

红外光谱仪作为分析研究物质结构组成的手段，应用非常广泛，其各种拓展应用的测量附件也为数众多。其中衰减全反射附件(以下称为ATR附件)在实际应用中，从一开始便显示出其独特的优势和广阔的应用前景。由于其并不需要透过样品的信号，而是通过样品表面的反射信号获得样品表层有机成分的结构信息，不但简化了样品的制作过程，而且极大地扩大了红外光谱法的应用范围，使许多采用传统透过法无法制样、或者样品制备过程十分复杂、难度大、而效果又不理想的实验成为可能。因此，被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成分分析。红外光在样品表面的探测深度与附件晶体的折射率相关，且探测深度越深，检测信号越强。

目前常用的ATR晶体材料有：KSR-5、锗(Ge)、氯化银(AgCl)、溴化银(AgBr)、硅(Si)等，根据反射次数的不同又有单点衰减全反射附件和多重衰减全反射附件。经过一次衰减全反射即单点衰减全反射，光透入样品深度有限，样品对光吸收较少，因此光束能量变化也很小，所得光谱吸收带弱，信噪比差。为了增强吸收峰强度，提高测试过程中的信噪比，ATR附件多采用增加全反射次数使吸收谱带增强，这就是多重衰减全反射。

硒化锌晶体具有极好的光学特性和对热冲击具有很高的承受能力特点，能透过可见和红外光，尤其在红外光谱区具有高而均匀的光学透过率，适用于制作红外光谱应用中的光学元件；但其材质较软易产生划痕，而且材料折射率较大，所以需要在其表面镀制高硬度减反射膜来加以保护并获得较高的透过率。

发明内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种寿命长又经济的红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板。

本实用新型所述的一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，包括金刚石晶体镀膜1、硒化锌晶体板2和高分子材料固定座3；所述金刚石晶体镀膜1为金刚石晶体镀在硒化锌晶体板2上表面形成的膜；所述硒化锌晶体板2呈梯形，固定在高分子材料固定座3上。

本实用新型所述的一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，所述金刚石晶体镀膜1的厚度为120纳米-200纳米。镀膜厚度对整体性能有很大的影响，由于镀膜上下层为不同材料，易发生折射，太厚易损耖光能，但太薄易于磨损，使用寿命又不长。测试后，厚度为160纳米综合性能最佳。

本实用新型所述的一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，所述硒化锌晶体板2边侧投射进入的光能够在其内经过20～50次全内反射。

本实用新型所述的一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，所述高分子材料固定座3上侧面设有定位孔4。

本实用新型所述的一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，所述高分子材料固定座为耐高温、耐酸碱腐蚀的有机高分子材料。