[实用新型]一种调节式光学器件测量测试工具

权利要求书

1.一种调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，包括散热器结构（1）、安装在所述散热器结构（1）上的光源组件（2）、固定光学器件（3）的滑臂组件（4）和调节光学器件（3）位置的传动组件（5）；所述滑臂组件（4）包括结构相同的第一滑臂结构（41）和第二滑臂结构（42），所述第一滑臂结构（41）和第二滑臂结构（42）安装在所述散热器结构（1）两侧并关于所述散热器结构（1）径向对称设置；所述传动组件（5）固定安装在所述散热器结构（1）一侧并驱动所述第一滑臂结构（41）和第二滑臂结构（42）带动所述光学器件（3）上下移动。

2.根据权利要求1所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述传动组件（5）包括固定安装在所述散热器结构（1）上的螺杆组件（51）和旋接在所述螺杆组件（51）上的传动支架（52），所述传动支架（52）环绕所述散热器结构（1）设置，所述传动支架（52）的两端固定安装在所述第一滑臂结构（41）和第二滑臂结构（42）下端。

3.根据权利要求2所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述螺杆组件（51）包括转动螺杆（511），所述转动螺杆（511）上端通过螺杆固定件（512）固定安装在所述散热器结构（1）上端，所述转动螺杆（511）下端通过传动滑丝组件（513）固定安装在所述传动支架（52）上，在所述转动螺杆（511）下端端部设有转动所述转动螺杆（511）的转动片（514）。

4.根据权利要求3所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述转动螺杆（511）通过轴承（515）旋转安装在所述螺杆固定件（512）中，在所述螺杆固定件（512）上沿所述转动螺杆（511）一周设有环形刻度（5121）。

5.根据权利要求1所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述第一滑臂结构（41）包括纵向滑臂（411）、安装在所述纵向滑臂（411）上端并垂直于所述纵向滑臂（411）的横向滑臂（412）和安装在所述横向滑臂（412）内侧固定所述光学器件（3）的紧固弹片（413），所述纵向滑臂（411）通过固定安装在所述散热器结构（1）上端的纵向滑臂支架（414）滑动安装在所述散热器结构（1）侧端，所述横向滑臂（412）通过固定安装在所述纵向滑臂（411）上端部的横向滑臂支架（415）滑动安装在所述散热器结构（1）上方。

6.根据权利要求5所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述紧固弹片（413）为V形结构，在所述紧固弹片（413）上设有固定所述光学器件（3）的法兰边（4131）。

7.根据权利要求5所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述纵向滑臂（411）和横向滑臂（412）分别通过手拎螺丝（416）固定在所述纵向滑臂支架（414）和横向滑臂支架（415）上；在所述纵向滑臂（411）外侧设有第一滑臂刻度（4113），在所述横向滑臂（412）外侧设有第二滑臂刻度（4122）。

8.根据权利要求7所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述第一滑臂刻度（4113）的范围为10mm-70mm；所述第二滑臂刻度（4122）的范围为5mm-50mm。

9.根据权利要求1所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述光源组件（2）包括光源（21）、光源支架（22）和光源固定板（23），所述光源（21）安装在所述光源支架（22）中并通过所述光源固定板（23）固定安装在所述散热器结构（1）上。

10.根据权利要求1所述的调节式光学器件测量测试工具，其特征在于，所述散热器结构（1）为柱状结构，所述光源组件（2）与所述散热器结构（1）的中心轴线重合；所述光源组件（2）与所述光学器件（3）的光轴重合。