[实用新型]一种短路棒结构、包括其的阵列基板和显示面板

说明书

本实用新型公开了一种短路棒结构、包括其的阵列基板和显示面板，该短路棒结构设置在阵列基板上，包括第一短路棒，连接阵列基板的奇数列待测试线，在基板检测时用于向所述奇数列待测试线馈入基板检测信号，在面板检测时用于向所述奇数列待测试线馈入面板检测信号；第二短路棒，连接阵列基板的偶数列待测试线，在基板检测时用于向所述偶数列待测试线馈入基板检测信号，在面板检测时用于向所述偶数列待测试线馈入面板检测信号；所述第一短路棒和第二短路棒之一与所述待测试线同层设置，所述第一短路棒和第二短路棒中的另一个设置在不同于所述待测试线的另一层上。本实用新型能够消除因工艺性断路造成的检测异常，降低显示面板测试的工作量。

技术领域

本实用新型涉及显示设备检测领域，特别是涉及一种短路棒结构、包括其的阵列基板和显示面板。

背景技术

在显示设备的生产过程中，需要在各个生产阶段对设备性能进行检测，以便及时发现存在的问题，保证面板的质量。检测探针接触方式是在需要通过加载信号进行的检测项目中常用的检测方式。举例来讲，在薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的基板检测AT(Array Test)或面板检测CT(Cell Test)中，常采用检测探针接触方式来对基板上或面板上的引线区域加载信号。在该过程中，检测探针与基板上或面板上的引线区域一一对应，通过将探针分别扎入相对应的引线区域而形成连接，进而加载信号。由于引线间距很小(通常为38-40微米)，所以在检测探针与引线区域进行接触时容易发生偏差，并且容易对引线区域产生划伤，从而影响检测的效果。

为解决上述问题，一般采用在阵列基板上设置短路棒结构，所述短路棒结构用于将待测引线所对应的数据线或栅极线之间短路，从而在检测时只需要使检测探针与被短路的多个引线之一接触即可。短路棒结构能够减少以上偏差情况出现的几率，增加了整个检测过程的效率和稳定性。

现有技术中，在阵列基板上分别设置基板短路棒和面板短路棒，在生产过程中，形成阵列基板后使用基板短路棒进行基板测试，形成面板后使用面板短路棒进行面板测试，基板短路棒和面板短路棒独立设计，互不干扰。但是在实际应用中，由于阵列基板的设计空间有限，基板短路棒和面板短路棒独立设计造成面板短路棒与待测试线之间的过孔分布密集，容易在交叠处和源漏层过孔上的导电部的氧化铟锡(ITO)处出现断裂的情况，导致出现水平或垂直方向线的不良(X-line)，导致面板测试信号无法加载到待测数据线上，对显示屏的面板检测造成极大干扰，不仅增加了人力成本，还导致了因产品误判良率造成的损失。

实用新型内容

为了解决上述问题至少之一，本实用新型第一方面提供一种短路棒结构，设置在阵列基板上，包括

第一短路棒，连接阵列基板的奇数列待测试线，在基板检测时用于向所述奇数列待测试线馈入基板检测信号，在面板检测时用于向所述奇数列待测试线馈入面板检测信号；

第二短路棒，连接阵列基板的偶数列待测试线，在基板检测时用于向所述偶数列待测试线馈入基板检测信号，在面板检测时用于向所述偶数列待测试线馈入面板检测信号；

所述第一短路棒和第二短路棒之一与所述待测试线同层设置，所述第一短路棒和第二短路棒中的另一个设置在不同于所述待测试线的另一层上。

进一步地，所述待测试线为数据线，所述第一短路棒和第二短路棒之一设置在源漏层上，所述第一短路棒和第二短路棒中的另一个设置在栅极层上。

进一步地，所述待测试线为扫描线，所述第一短路棒和第二短路棒之一设置在栅极层上，所述第一短路棒和第二短路棒中的另一个设置在源漏层上。

进一步地，所述待测试线与所述第一短路棒和第二短路棒中的另一个通过过孔连接。

进一步地，所述阵列基板包括不同于所述待测试线所在的层和所述第一短路棒和第二短路棒中的另一个所在的层设置的导电部，并且所述过孔包括第一过孔和第二过孔，其中