[实用新型]一种晶振不良品自动检测装置有效

专利信息
申请号: 201820280779.0 申请日: 2018-02-28
公开(公告)号: CN208555083U 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 张国庆 申请(专利权)人: 芮城县通泰电子有限公司
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34;B07C5/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 044600 山西省运城*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 晶振 不良品输送带 不良品 输送带 自动检测装置 汽缸 底部连接 激光检测仪 实心杆 汽管 推块 种晶 本实用新型 活动连接有 连接线 安装固定 机械驱动 支架顶部 挡板 检测 挡块 支架 隔离 节约
【说明书】:

本实用新型公开了一种晶振不良品自动检测装置,包括晶振输送带,所述晶振输送带内部设有晶振原料,且晶振输送带下方连接有不良品输送带,所述不良品输送带两侧安装有挡板,且不良品输送带底部连接有挡块,所述不良品输送带顶部固定连接有支架,且支架顶部安装连接有汽缸,所述汽缸底部连接有汽管,其汽管顶部活动连接有实心杆,且实心杆顶部连接有推块,所述不良品输送带左侧安装固定有激光检测仪,且激光检测仪底部连接有连接线。该晶振不良品自动检测装置采用晶振输送带、汽缸、不良品输送带和推块的结构,能够对检测出的晶振不良品进行全自动的隔离,其完全由机械驱动,从而不仅提高了晶振不良品的检测效率,且节约了人力。

技术领域

本实用新型涉及晶振检测设备技术领域,具体为一种晶振不良品自动检测装置。

背景技术

晶振是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片(简称为晶片),石英晶体谐振器,简称为石英晶体或晶体、晶振;而在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件称为晶体振荡器,其产品一般用金属外壳封装,也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的。

现在市场上的晶振在生产过程中对其检测为人工进行,其不仅费时费力,且检测效率低下,所以需要一种晶振不良品自动检测装置提高检测效率。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种晶振不良品自动检测装置,以解决上述背景技术中提出的现在市场上的晶振在生产过程中对其检测为人工进行,其不仅费时费力,且检测效率低下的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种晶振不良品自动检测装置,包括晶振输送带,所述晶振输送带内部设有晶振原料,且晶振输送带下方连接有不良品输送带,所述不良品输送带两侧安装有挡板,且不良品输送带底部连接有挡块,所述不良品输送带顶部固定连接有支架,且支架顶部安装连接有汽缸,所述汽缸底部连接有汽管,其汽管顶部活动连接有实心杆,且实心杆顶部连接有推块,所述不良品输送带左侧安装固定有激光检测仪,且激光检测仪底部连接有连接线。

优选的,所述晶振输送带两侧设有缺口,且晶振输送带缺口的长度大于推块的长度。

优选的,所述汽缸底面与不良品输送带表面的间距大于晶振原料的高度,且汽缸与不良品输送带相互平行。

优选的,所述不良品输送带表面的高度与晶振输送带表面的高度相等,且不良品输送带与晶振输送带位置相互垂直。

优选的,所述推块面向晶振输送带的侧面与晶振输送带的内侧壁齐平,且推块与实心杆为固定连接。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该晶振不良品自动检测装置采用晶振输送带、汽缸、不良品输送带和推块的结构,能够对检测出的晶振不良品进行全自动的隔离,其完全由机械驱动,从而不仅提高了晶振不良品的检测效率,且节约了人力。该装置的晶振输送带两侧设有缺口,且晶振输送带缺口的长度大于推块的长度,该结构能够使得推块自如的移动,不会受到阻挡,从而能够达到将晶振输送带内部的晶振原料不良品自动推离的效果,提高了工作效率,汽缸底面与不良品输送带表面的间距大于晶振原料的高度,且汽缸与不良品输送带相互平行,该结构能够使得被推块推离的晶振原料不良品不受阻挡,自动进入不良品输送带,其由机械驱动,无需人力操作,从而不仅使得该装置节省了人力,且效率更高,不良品输送带表面的高度与晶振输送带表面的高度相等,且不良品输送带与晶振输送带位置相互垂直,该结能够使得不良品输送带与晶振输送带处于同一平面,在晶振原料不良品在被推块推动后,使得晶振原料不良品流畅的进入不良品输送带,从而达到自动推离晶振原料不良品的效果,提高了检测效率,节省了人力,推块面向晶振输送带的侧面与晶振输送带的内侧壁齐平,且推块与实心杆为固定连接,该结构在晶振原料于晶振输送带表面移动时,不会阻挡晶振原料的移动,且其与实心杆的固定连接,使得汽缸能够将力作用于推块,从而无需人力驱动,能够自动将晶振原料不良品从晶振输送带推至不良品输送带,节约了人力,提高了效率。

附图说明

图1为本实用新型俯视结构示意图;

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