[实用新型]一种用于间歇寿命试验的控制装置

说明书

本实用新型涉及一种用于间歇寿命试验的控制装置，属于宇航用元器件可靠性试验技术领域。该装置包括IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器；所述的IGBT模块中包括IGBT开关和二极管；所述的IGBT模块与电源的正极连接，IGBT模块与平波电容连接，平波电容的负端接地；平波电容通过IGBT模块中的二极管与试验器件的正端连接，试验器件的正端和负端均与采样分流器连接，采样分流器还与微处理器连接，采样分流器还与电源负极连接；微处理器与IGBT模块连接，微处理器与平波电容连接。

技术领域

本实用新型涉及一种用于间歇寿命试验的控制装置，属于宇航用元器件可靠性试验技术领域。

背景技术

间歇寿命试验是宇航用元器件筛选试验和可靠性试验必不可少的重要试验内容，试验通过使器件重复承受电压或电流的通与断，以加速器件芯片与安装表面之间所有键合和界面的应力，目的是为了确定器件在承受规定的条件下是否能满足高可靠元器件失效率的要求。间歇寿命试验需要间歇电源对试验系统进行间歇供电，许多情况下，试验室无法配备完全满足所有元器件类型的间歇电源，有些试验室无间歇电源。这就需要研制一种间歇寿命试验控制装置，用于元器件的间歇寿命试验。

实用新型内容

本实用新型的技术解决问题：克服现有技术的不足，提出一种用于间歇寿命试验的控制装置，该装置在电源的输出端加入了IGBT模块来控制电源的间歇性输出。

本实用新型的技术解决方案是：

一种用于间歇寿命试验的控制装置，该装置包括IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器；

所述的IGBT模块中包括IGBT开关和二极管；

所述的IGBT模块与电源的正极连接，IGBT模块与平波电容连接，平波电容的负端接地；平波电容通过IGBT模块中的二极管与试验器件的正端连接，试验器件的正端和负端均与采样分流器连接，采样分流器还与微处理器连接，采样分流器还与电源负极连接；微处理器与IGBT模块连接，微处理器与平波电容连接。

所述的IGBT模块中还包括控制芯片。

控制芯片用于接收微处理器输入的控制信号，并根据接收到的控制信号来控制IGBT开关的通断。

所述的IGBT模块与平波电容连接时是通过IGBT模块中的二极管与平波电容连接。

所述的IGBT开关用于接收电源输入的电信号。

所述的平波电容并联在二极管的正端，电信号经过二极管的负端后输出给试验器件。

所述的微处理器的控制指令通过触摸屏进行输入或是通过计算机进行输入，IGBT模块和平波电容均由微处理器来进行控制。

所述的采样分流器从电源的正端和负端采集试验器件负载的电压和电流，并将采集到的试验器件负载的电压信号和电流信号反馈给微处理器；微处理器将接收到的试验器件负载的电压信号和电流信号与微处理器的初始设定值进行比较，根据接收到的试验器件负载的电压信号和电流信号与微处理器的初始设定值的比较结果来校准IGBT模块与平波电容的控制信号，使得试验器件负载的电压和电流与微处理器的初始设定值一致。

所述的微处理器的初始设定值通过计算机或触摸屏的方式进行设置。

所述的微处理器所接收到的试验器件负载的电压信号和电流信号通过计算机或触摸屏进行实时显示，并通过计算机进行记录。

所述的控制芯片为隔离光耦。

所述的IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器所形成的控制装置还可以是两路、三路或四路并联，并联后共同给试验器件提供电流，提升试验电流。

本实用新型的有益效果是：