[实用新型]一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头

说明书

本实用新型公开了一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其包括探头主体和热电偶，在探头主体的下部开设有第一通孔，在探头主体的底端中部开设有与第一通孔连通设置的第二通孔，在探头主体的顶端中部开设有与第一通孔连通设置的中心孔；热电偶穿置在中心孔内，且热电偶的底端置于第一通孔内。优点：高温熔体可经第一通孔和第二通孔进入探头主体内部与热电偶接触，可有效缩短测温时间，探头主体可耐高温熔体腐蚀，进而延长使用寿命；沿中心孔圆周均匀分布的调节盲孔可以有效阻碍熔体热量通过探头主体向其内部传导，从而减慢探头主体中心区域和第一通孔内结晶体的升温熔化速度，使测量值更准确、稳定可靠。

技术领域：

本实用新型涉及冶金领域，具体地说涉及一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头。

背景技术：

在电解槽实际运行过程中，由于间歇加料以及原料粒度不均匀等原因，电解槽电流和熔融电解质成分会发生波动，导致熔融电解质温度和初晶温度发生变化，过热度会增大或者减小，造成电耗增加以及降低电解效率，甚至降低电解槽寿命。因此，通过实时在线测量电解质温度和初晶温度，并将其反馈于槽控机的自动控制系统，可实时调节电解温度或者熔融电解质化学成分，以保持电解过程维持在一个理想的工况环境。温度检测探头是测量电解质温度和初晶温度的必要元件，但是，现有的温度探头存在探头材料易被高温熔体腐蚀、凝固在热电偶附近的固态电解质不易清理、测量温度不稳定、重复使用性差和使用寿命短等问题。

实用新型内容：

本实用新型的目的在于提供一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，以延长探头的使用寿命。

本实用新型由如下技术方案实施：一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其包括探头主体和热电偶，在所述探头主体的下部开设有水平设置的第一通孔，在所述探头主体的底端中部开设有与所述第一通孔连通设置的第二通孔，在所述探头主体的顶端中部开设有与所述第一通孔连通设置的中心孔；所述热电偶穿置在所述中心孔内，且所述热电偶的底端置于所述第一通孔内。

进一步的，在所述探头主体内部开设有底端与所述第一通孔连通设置的锥形腔，所述热电偶的底端置于所述锥形腔内。

进一步的，在所述探头主体顶部沿所述中心孔圆周方向开设有若干调节盲孔。

进一步的，所述调节盲孔的孔底与所述锥形腔顶部之间的距离为h1，所述调节盲孔的孔底与所述锥形腔底部之间的距离为h2，h1：h2＝3:1。

进一步的，所述第一通孔的中心线与所述探头主体的中心线垂直且相交，所述第二通孔的中心线与所述探头主体的中心线在一条直线上。

进一步的，在所述探头主体的顶端边沿处开设卡槽。

进一步的，所述探头主体采用石墨、碳化硅或氮化硅陶瓷任意一种材料制成。

本实用新型的优点：高温熔体可经第一通孔和第二通孔进入探头主体内部与热电偶接触，可有效缩短测温时间，探头主体可耐高温熔体腐蚀，进而延长使用寿命；沿中心孔圆周均匀分布的调节盲孔可以有效阻碍熔体热量通过探头主体向其内部传导，从而减慢探头主体中心区域和第一通孔内结晶体的升温熔化速度，使测量值更准确、稳定可靠；探头主体由石墨、碳化硅或氮化硅陶瓷等润湿性差的材料制成，不易粘电解质，易于清理。

附图说明：

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为图1的俯视图。

探头主体1、热电偶2、第一通孔3、第二通孔4、中心孔5、调节盲孔6、锥形腔7、卡槽8。

具体实施方式：