[实用新型]电池片颜色分选缺陷智能检测设备有效
申请号: | 201820232997.7 | 申请日: | 2018-02-09 |
公开(公告)号: | CN207800568U | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 刘鹤川;林双全;李岩 | 申请(专利权)人: | 无锡市索克赛斯科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677;H01L21/683;H01L21/687;H01L21/66;H01L31/18 |
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地址: | 214000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
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本实用新型公开了电池片颜色分选缺陷智能检测设备,包括壳体,所述壳体的底部设有地脚,所述壳体的左端面上设有第一上料窗口和第二上料窗口,所述壳体的内部横向贯穿有主输送道,所述第一气缸对夹矫正模块的右侧依次设有第一相机拍照模块、第二相机拍照模块、第一硅片翻身模块、第三相机拍照模块、第二硅片翻身模块和第二气缸对夹矫正模块,所述第二气缸对夹矫正模块的右侧设有分选搬送气缸模块,所述分选搬送气缸模块的末端均设有挡料盒,所述主输送道的末端设有废料盒。减少手工跟硅片的接触,避免了人为因素对硅片的污染,眼观的误判,有效得提高了成品率和转换率,降低了人工成本,整个过程实现全智能化,创造了可观的经济效益。
技术领域
本实用新型涉及电池片分选技术领域,具体为电池片颜色分选缺陷智能检测设备。
背景技术
太阳能电池是通过光电效应或者光化学效应直接把光能转化成电能的装置。只要被光照到,瞬间就可输出电压及电流。在物理学上称为太阳能光伏,简称光伏。以光电效应工作的薄膜式太阳能电池为主流,而以光化学效应工作的湿式太阳能电池则还处于萌芽阶段。
电池片在加工过程中,需要对太阳电池片进行颜色分类,人工分选容易造成眼观的误判,手工跟硅片的接触,容易对硅片造成污染,具有一定的局限性。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供电池片颜色分选缺陷智能检测设备,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:电池片颜色分选缺陷智能检测设备,包括壳体,所述壳体的底部设有地脚,所述壳体的左端面上设有第一上料窗口和第二上料窗口,所述壳体的内部横向贯穿有主输送道,所述主输送道的两侧分别设有第一上料输送带和第二输送带,所述第一上料输送带和第二输送带之间设有吸盘抓取模块,所述吸盘抓取模块的右侧设有第一气缸对夹矫正模块,所述第一气缸对夹矫正模块的右侧依次设有第一相机拍照模块、第二相机拍照模块、第一硅片翻身模块、第三相机拍照模块、第二硅片翻身模块和第二气缸对夹矫正模块,所述第二气缸对夹矫正模块的右侧设有分选搬送气缸模块,所述分选搬送气缸模块的末端均设有挡料盒,所述主输送道的末端设有废料盒。
优选的,所述第一上料窗口和第一上料输送带对应设置,所述第二上料窗口和第二输送带对应设置。
优选的,所述第一相机拍照模块、第二相机拍照模块、第一硅片翻身模块、第三相机拍照模块、第二硅片翻身模块和第二气缸对夹矫正模块均设置在主输送道的正上方。
优选的,所述废料盒处还设有料满报警模块,所述料满报警模块包括蜂鸣器。
优选的,所述壳体的左端面上还设有工业键盘和显示器,所述壳体顶部的左端设有报警灯,所述壳体的正面设有操作按钮,所述壳体的正面和背面均设有观察窗。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型电池片颜色分选缺陷智能检测设备,结构新颖,改变传统人工分选的方法,第一上料窗口和第一上料输送带对应设置,第二上料窗口和第二输送带对应设置,通过第一上料窗口和第二上料窗口进行上料,通过吸盘抓取模块将物料转运到主输送道上,经过第一相机拍照模块和第二相机拍照模块拍照后,通过第一硅片翻身模块将硅片翻身,然后再通过第三相机拍照模块进行拍照,检测机构检测太阳电池图像,得到太阳电池的颜色数据并给出分选信号到分选搬送气缸模块,再利用第二硅片翻身模块将硅片翻身,第一气缸对夹矫正模块和第二气缸对夹矫正模块用于对硅片进行矫正,最后通过分选搬送气缸模块进行分选,根据收到的分选信号对太阳电池进行分选归类,分选搬送气缸模块设置六组,能方便快速地对太阳电池片进行颜色分类,并且具有结构简单、使用方便、检测数据可靠精确等优点和特点,减少手工跟硅片的接触,避免了人为因素对硅片的污染,眼观的误判,有效得提高了成品率和转换率,降低了人工成本,整个过程实现全智能化,创造了可观的经济效益,具有很高的实用性,大大提升了该电池片颜色分选缺陷智能检测设备的使用功能性,保证其使用效果和使用效益,适合广泛推广。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造