[实用新型]一种电光调制器的半波电压测量装置

说明书

本实用新型提供了一种电光调制器的半波电压测量装置，该测量装置包括激光器、可调信号源、电光调制器、光纤延时线、光电探测器、移相器、可调放大器和窄带滤波器；激光器连接至电光调制器的光输入端，光调制器的光输出端通过光纤延时线与光电探测器的光输入端电连接，光电探测器的电输出端与移相器的输入端电连接，移相器的输出端与可调放大器的输入端电连接，可调放大器的输出端与窄带滤波器的输入端电连接，电光调制器的电输入端通过转换开关与可调信号源或窄带滤波器的输出端择一电连接。本实用新型解决了传统的交流半波电压的测量方案复杂、不仅需要不同的外置频率源还需要对不同频点的测量进行校准的问题。

技术领域

本实用新型涉及光通信及光学信息处理技术领域，尤其指一种电光调制器的半波电压测量装置。

背景技术

电光调制器(Opto-electronic Intensity Modulator，OEIM)是一种将电信号调制到光载波幅度的器件，它在传感、通信、遥感遥测、精确测量等领域得到广泛应用，“半波电压”作为表征电光调制器性能的核心指标，其大小等于使电光调制器两臂产生180°相位差的电压值，且该值会随着工作频率的不同而变化，精确测量电光调制器在不同工作频率时对应的半波电压值是当前科学研究与工程应用的热点。

电光调制器的半波电压分为直流半波电压和交流半波电压，其中直流半波电压值的大小，可通过改变电光调制器的偏置电压进而测量电光调制器输出光功率的大小来确定；而对于交流半波电压值的大小，传统的测量方法可分为光域测量法与电域测量法，光域测量法受限于光谱仪的分辨率，使得测量带宽受限且精度不高；电域测量法是通过构建微波光链路(Microwave Photonic Link，MPL)，基于电光调制器的非线性来分析输入-输出信号特征得出半波电压值，一方面对于不同的测量频率需要不同的外置频率源，另一方面微波光链路对不同工作频率的响应互异性导致对于不同频点的测量均要进行校准，增加了测量过程的复杂性。

实用新型内容

本实用新型提供的一种电光调制器的半波电压测量装置，解决了传统的交流半波电压的测量方法复杂、不仅需要不同的外置频率源还需要对不同频点的测量进行校准的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：一种电光调制器的半波电压测量装置，包括激光器、可调信号源、电光调制器、光纤延时线、光电探测器、移相器、可调放大器和窄带滤波器；所述激光器连接至电光调制器的光输入端，所述电光调制器的光输出端通过光纤延时线与光电探测器的光输入端电连接，所述光电探测器的电输出端与移相器的输入端电连接，所述移相器的输出端与可调放大器的输入端电连接，所述可调放大器的输出端与窄带滤波器的输入端电连接，所述电光调制器的电输入端通过转换开关与可调信号源或窄带滤波器的输出端择一电连接。

进一步地，所述可调放大器包括低噪声放大器、可调衰减器和功率放大器，所述低噪声放大器的输入端与移相器的输出端电连接，所述低噪声放大器的输出端与可调衰减器的输入端电连接，所述可调衰减器的输出端与功率放大器的输入端电连接，所述功率放大器的输出端与窄带滤波器的输入端电连接。

更进一步地，所述转换开关包括负载接线端c、第一挡接线端a 和第二挡接线端b，所述负载接线端c与电光调制器的电输入端电连接，所述第一挡接线端a与可调信号源电连接，所述第二挡接线端b 与窄带滤波器的输出端电连接。

更进一步地，所述激光器采用型号为EM650-193500-100-PM900-FCA-NA 的DFB激光器。

更进一步地，所述电光调制器采用型号为IM-1550-20-PM的马赫增德尔调制器。

更进一步地，所述光电探测器采用型号为PD-30的光电探测器。

优选地，所述可调信号源采用网络分析仪，将所述网络分析仪的内置源作为TSS信号输入电光调制器中。