[实用新型]用于老化及测试的夹具

说明书

一种用于老化及测试的夹具，包括底座、设置在底座上的承载片、安装在底座上的固定架、安装在固定架上的第一电极块、及第二电极块；承载片上设有工位槽；底座上设有定位销，承载片上设有与定位销对应的片侧限位孔，固定架上设有与定位销对应的架侧限位孔；承载片通过片侧限位孔穿设在定位销上，固定架通过架侧限位孔穿设在定位销上，且第一电极块及第二电极块的一端与工位槽对应设置。本实用新型的用于老化及测试的夹具通过第一电极块的一端及第二电极块的一端的下表面可分别与半导体激光器芯片上表面的两侧准确连接，且增大了与半导体激光器芯片表面的接触面积，避免了脉冲电流的产生，同时有利于半导体激光器芯片在老化及测试过程中的散热。

技术领域

本实用新型涉及测试机构，特别是涉及一种用于老化及测试的夹具。

背景技术

半导体激光器芯片在制造完成后，为确保芯片能持久正常工作，需要进行老化及测试检验，一般在对应于的检测平台上完成；老化及测试检测平台上设有为半导体激光器芯片通电的夹具，现有的老化与测试检测平台的夹具通过是以探针下压的通电方式给半导体激光器芯片的正负两极供电，由于是点接触的连接方式，容易造成脉冲电流，而且下压力作用在芯片两点造成受力不均匀，引起芯片散热不良问题。

实用新型内容

基于此，本实用新型提供一种通过面接触向半导体激光器芯片供电，避免芯片受力及散热不良的用于老化及测试的夹具。

为了实现本实用新型的目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种用于老化及测试的夹具，包括底座、设置在所述底座上的承载片、安装在所述底座上的固定架、安装在所述固定架上的第一电极块、及安装在所述固定架上的第二电极块；所述承载片上设有工位槽；所述底座上设有若干定位销，所述承载片上设有若干与所述定位销对应的片侧限位孔，所述固定架上设有若干与所述定位销对应的架侧限位孔；所述承载片通过所述片侧限位孔穿设在所述定位销上，所述固定架通过所述架侧限位孔穿设在所述定位销上，且所述第一电极块的一端及所述第二电极块的一端与所述工位槽对应设置。

本实用新型的用于老化及测试的夹具通过第一电极块的一端及第二电极块的一端的下表面可分别与半导体激光器芯片上表面的两侧准确连接，且增大了与半导体激光器芯片表面的接触面积，避免了脉冲电流的产生，同时有利于半导体激光器芯片在老化及测试过程中的散热。

在其中一个实施例中，所述固定架的下端设有第一通极槽、及第二通极槽；所述第一通极槽与所述第二通极槽间隔设置，且所述第一通极槽与所述第二通极槽相互平行延伸。

在其中一个实施例中，所述第一电极块容置在所述第一通极槽；所述第二电极块容置在所述第二通极槽。

在其中一个实施例中，所述固定架上设有与所述第一通极槽对应的第一安装孔，所述第一安装孔连通所述固定架的上表面与所述第一通极槽，所述第一电极块上设有与所述第一安装孔对应的第一固定孔。

在其中一个实施例中，还包括第一固定件；所述第一固定件穿过所述第一安装孔后，与所述第一电极块固定连接。

在其中一个实施例中，所述固定架上设有与所述第二通极槽对应的第二安装孔，所述第二安装孔连通所述固定架的上表面与所述第二通极槽，所述第二电极块上设有与所述第二安装孔对应的第二固定孔。

在其中一个实施例中，所述第二固定件穿过所述第二安装孔后，与所述第二电极块固定连接。

在其中一个实施例中，还包括第三固定件，所述底座上设有第三固定孔，所述固定架上设有第三安装孔，所述第三固定件穿过所述第三安装孔后穿设在所述第三固定孔中。

在其中一个实施例中，所述第三固定件为螺丝。

在其中一个实施例中，还包括平衡垫片，所述承载片在远离所述工位槽的一侧设有容片槽，所述容片槽与所述平衡垫片对应，所述平衡垫片容置在所述容片槽中。